欢迎您来到科学指南针,在这里您可以:
在搜索栏搜索测试项目,例如:XPS、SEM,
新人免单,先测后付
覆盖材料、生物、环境等全品类测试,XPS/
SEM低至90元,了解详情
即日注册享受200元优惠,超出部分先测后付
宁波工程学院材化学院微纳米结构与器件实验室 邬宁昆
Hitachi
S-4800
04-26
|
星期一 (04-22) |
星期二 (04-23) |
星期三 (04-24) |
星期四 (04-25) |
星期五 (04-26) |
星期六 (04-27) |
星期天 (04-28) |
加载中... |
服务领域
材料,地质矿产,机械工程,轻工
主要技术指标
一、SEM性能指标: 1)二次电子像分辨率:优于1.0 nm / 15kV;优于1.7 nm / 1kV。 2)背散射电子像分辨率:优于3.0 nm / 30kV。 3)放大倍率:30~800,000倍。 二、EDX性能指标: 1)MnK@处分辨率优于129eV (计数率为20000cps)。 2)C K@处分辨率优于60eV (计数率为20000cps)。 3)F K@处分辨率优于65eV(计数率为20000cps)。 4)1000~50000CPS,平均元素定量误差小于0.5% 。 5)探测范围:Be(4)-U(92) 。
主要功能及应用领域
用于观察材料表面的微观形貌、断口及内部组织,并对材料表面微区成分进行定性和定量分析;可对材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定; 可对金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定; 可对纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析等。 可广泛用于金属、陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料领域。
已成功提交
感谢您的反馈
已成功提交
感谢您的反馈