石英晶体微天平

石英晶体微天平分析仪是非常灵敏的质量传感器，可在液体与气体中使用。

可以获得基本的频率变化、质量、厚度等参数，耗散型QCM还可以测量耗散因子、界面流变、构象变化等。耗散因子可以知道石英晶片表面样品的刚性与柔性，可用于计算表面粘度与弹性模量（界面流变）。

质量测定：测试表面形成的分子层的质量，精度达到毫微克。例如，可检测到1%或更低浓度蛋白质单分子层的结构变化。

结构变化：同步测试结构变化，因此可以区分两个相似的键合反应或观察到吸附层上发生的相变。

实时分析：可以进行实时记录和动力学评估。

无须标记：无须对分子做标记，仪器测定的是分子本身。

弹性表面选择：适用于任何能形成薄膜的表面如金属、高分子、化学改性表面。

流量测试：特别涉及的样品池可以在控温环境下进行流量测定。

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