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    双波段发射率测量仪

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    双波段发射率测量仪

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    好评率

    仪器型号 IR-2
    预约次数 1217次
    服务周期 收到样品后平均2.5-4.9工作日完成

    项目简介

    双波段发射率

    结果展示

    样品要求

    仪器是点源测试(即一个点测出一个数据),非全扫描,每样品正常测9次计算得到平均值,

    块体:样品直径3.5--4.8cm的片,厚最好1mm以上,太薄会透射,表面不要太粗糙

    有基底的薄膜样品,薄膜厚度最好10微米以上,太薄了测试基本上不准确

    粉末5g,不建议用粉末测试,误差较大

     
     
     
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