球差校正透射电子显微镜
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项目简介
可达到亚埃级,常用于纳米材料精准表征,获取微观原子排布,微区结构和元素分布信息。可得到高分辨率像(HRTEM),单原子图像,haddf(高角环形暗场),eels(电子能量损失谱), mapping等。
形貌观察:对各种材料内部微结构进行二维显微形貌观察,包括常见的粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察;配合三维重构可以得到三维立体形貌;
结构分析:利用选区电子衍射、高分辨透射图像、高分辨扫描透射图像等分析材料的结构;
成分分析:配合能谱仪可以对样品元素做点、线、面、体分布分析,可以得到原子分辨率的元素面分布图像;
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结果展示
案例1:C3N4材料负载金属单原子
案例2:高熵氧化物的原子相
案例3:HAADF和IDPC模式下钛酸铋钠原子相
样品要求
1、块体用fib制样,厚度30nm左右;粉末提供10mg左右;
2、纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样;
3、含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性;
4、可提供寄样,云视频,现场测试服务。
常见问题
1. 样品为什么会积碳,积碳有什么影响?
答:样品中有机物的影响,制备过程含有机物,或者样品吸附空气中污染物;积碳会影响STEM模式的拍摄效果,让视野模糊不清。
2. 有什么方法可以改善积碳带来的影响?是否一定有用?
答:等离子清洗制好样的载网,但有洗坏样品的风险,可以会导致负载颗粒脱落等风险;电子束辐照样品一段时间,理论上会有改善,但是实际不一定会有明显效果。
3. 我要拍的单原子,为什么整片区域都是很亮的,看不清单个的?
答:样品太厚,或者负载量太大等。
4. 为什么拍不到原子分辨率的mapping和eels?
答:原子相要求样品很薄,样品薄的话能谱信号和eels号会比较弱,不利于收集信号。那就要求样品很薄,很稳定,能长时间收集信号,且要求原子序数都比较大的。一般样品很难同时符合这几个要求。
5. 拍球差的样品为什么要很薄?
答:薄的样品可以减少电子在样品中的弹射次数,分辨率就会比较高。
6. 样品很厚是不是制样没超声好?
答:球差一般是拍样品边缘几个nm的区域,所以对于原子相样品团聚不会影响到拍摄效果,但样品本身很厚就会有影响,这个与超声分散的效果没有关系,与样品本身的厚薄有关。
7. 拍摄球差前,为什么要TEM筛样?
提前上透射看一下样品是否符合预期、是否有薄区可以拍摄球差。如果不提前筛样,拍摄中可能会出现样品基底厚度偏厚,结晶性差,无法拍摄出清晰的原子像或单原子。