小角散射数据分析
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项目简介
小角X射线散射（SAXS）和掠入射小角X射线散射（GISAXS）是分析1nm-0.1µm结构的强有力手段。对于诸如聚合物、蛋白质溶液、液晶、表面特性、粉末、块状样品以及薄膜等各种样品，这两种测试方法不仅能够提供纳米颗粒粒度、形状以及粒度分布的信息，还能提供结构动力学信息。
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结果展示
一维计算分形、Porod曲线、Krakky方程和劳伦兹曲线；
二维可以计算原始散射、距离分布函数（PDDF）、回转半径、相关函数、特征函数、Kalaty方程、二维作图、分形等。
可以得到的数据如下所示：
1. 散射曲线图、分形维数（Dm；Ds）、α值
2. 散射体的粒径分布（PDDF）
3. 界面信息、均匀程度（Porod曲线）
参考文献：Chinese Physics C Vol. 37, No. 10 (2013) 108002. DOI: 10.1088/1674-1137/37/10/108002.
4. 回转半径（Rg）。
Eg：回转半径测试结果为nm级别；
5. 相关函数。
6. Kalaty方程
7. SAXS二维图，需要二维数据。
其他需求可详细咨询，程老师：13003403365.
样品要求
提供测试仪器型号、探测器型号、测试距离、原始数据，下单前请提前沟通需求~
常见问题
