同步辐射小角散射(SAXS/GISAXS)-科学指南针

项目简介

1. SAXS（小角X射线散射）和GISAXS（掠入射小角X射线散射）是用于研究物质纳米至微米级结构的两种重要结构表征技术，主要应用于材料科学、生物学、化学等领域。SAXS可解决溶液、粉末和块状样品的结构问题，而GISAXS专注于薄膜和表面结构。

2. 这两种测试的相同点是都利用X射线散射原理来获取物质内部结构信息。不同点在于SAXS采用正入射，比较适用于块体材料，可用于研究纳米至亚微米尺度的物质结构，解决诸如蛋白质折叠、聚合物形态、纳米颗粒大小和形状等问题；而GISAXS采用掠入射，使得GISAXS在垂直方向上具有更高的空间分辨率，GISAXS更适用于表面和界面科学研究,专注于表面和界面结构分析，能解决薄膜生长模式、界面粗糙度、纳米结构排列等难题。

样品要求

粉末：20mg（只做透射，粉末需研磨），薄膜长宽1cm（提供空白衬底）、块体长宽1cm（基底最好为硬质无机基片），液体2ml。测试默认二维面探测器。

常见问题

1. 同步辐射saxs，waxs和xrd的联系和区别是什么？

SAXS和WAXS是指小角和广角X射线散射，X射线作用于物质上都会发生散射，而XRD是散射的一种特殊情况，指满足布拉格方程发生衍射得到衍射增强的衍射峰。

2. 样品制备的均匀性对测试结果有什么影响?

由于同步辐射X光的光斑通常都比较小，因此均匀的样品能很好的体现样品本身的性质。

3. 对于giwaxs来说，基底该如何选择?样品层厚度控制在多少？

GIWAXS通常对于基底没有特殊的要求，在测试之后可以测试空白衬底以排除衬底对实验分析的干扰。GIWAXS通常通过控制入射角大小可获得几纳米到几百纳米的穿透深度，在这个厚度范围内的样品都可以进行测试。

4. 样品的状态（粉末，薄膜）对测试结果会有影响吗？

粉末和薄膜有不同的测试方式，粉末一般是进行透射测试，而薄膜可以进行透射和掠入射两种测试模式，可以自行根据所需信息选择测试方式。