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原位近常压X射线光电子能谱仪（NAP-XPS）
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仪器型号 Proven-X NAP
预约次数 1013次
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项目简介
原位近常压X射线光电子能谱（NAP-XPS）是一种在接近实际工作条件（如常压或特定气氛）下进行的表面分析技术。它利用X射线激发样品表面，使原子或分子发射光电子，通过检测光电子的能量和数量，分析样品表面的元素组成、化学态及表面反应过程。揭示表面反应机制、吸附/脱附过程以及催化剂活性位点的动态行为。
主要应用以下几个方面：
1、催化研究：用于研究催化剂在反应条件下的表面化学变化，揭示活性位点的动态行为；
2、能源材料：分析电池电极材料在充放电过程中的表面化学变化，研究其失效机制；
3、表面研究：研究材料表面在不同气氛下的吸附/脱附过程，分析表面污染和氧化层；
样品要求
1、可接绝缘样品，粉末，液体，气体，生物分子，粉末大于5mg、块体薄膜不超过10mm*10mm*3mm;
2、液体干燥制样，不可测试含氟、氯、溴、碘等易挥发成分的样品；
3、测试范围：光照，高温(不超过800℃），气氛，电化学XPS测试；
常见问题
