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x射线测厚仪
96.7%
好评率
仪器型号
德国Helmut-fischer+XDV-SDD
已测试样品
1036个
常规周期
6个工作日
部分论文致谢
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{{scope.row.thanker}}
{{scope.row.thankcompanyname}}
{{scope.row.buffetname}}
{{scope.row.ifvalue}}
{{scope.row.journalname}}
{{scope.row.amount || 0}}元
项目简介
X射线测厚仪基于X射线荧光光谱（XRF）技术，实现金属/非金属基材上单层或多层镀层（0.01-50μm）的无损快速分析，在电子半导体、新能源材料、汽车与航空航天、生物医用材料、日用品与包装等领域具有广泛应用。
{{moduleItem.modulename}}
样品要求
1.可接受的样品状态：块体、薄膜镀层；
2.可接受的样品尺寸范围：10×10×1mm-20×20×3mm。
