【摘要】 AFM接触模式，扫描范围越大，对针损坏越大吗？扫描范围大的情况下考虑表面出现较高起伏颗粒会对探针造成磨损，另外扫描范围很大时，接近扫描最大范围93微米时会对扫描管造成损伤。

在做AFM测试时，科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到，好多同学对此项目不太了解，针对此，科学指南针检测平台团队组织相关同事对afm测试进行问题收集并整理，希望可以帮助到科研圈的伙伴们；

 

 1   AFM接触模式，扫描范围越大，对针损坏越大吗？

答：扫描范围大的情况下考虑表面出现较高起伏颗粒会对探针造成磨损，另外扫描范围很大时，接近扫描最大范围93微米时会对扫描管造成损伤。

 

 2   什么时候才会考虑调节 I gain/P gain/setpoint这些参数? 

答：setpoint与力有关，接触模式和峰值力轻敲模式下setpoint与力成正比关系，如果探针接触不到表面出现形貌差异较大时需要增大setpoint，轻敲模式力与setpoint成抛物线关系，I gain在每次成像时都需要调节，先慢慢增大至误差通道出现噪声震荡时回调I gain值至震荡消失为最佳，调节好I gain后将P gain设置为I gain的2倍。

 

 3   接触共振模式测粘性，振幅只与粘度有关吗？quality factor 只与粘性有关（正相关）吗？

答：是的，quality factor只与粘性正相关。

 

 4   AFM可以像STM那样看到原子级尺度（纳米）的形貌吗？

答：可以，一般在液下测量原子相。

 

 5   测量两相之间电势差采用KPFM模式还是PFM模式？

答：采用KPFM模式。

 

 8   setpoin是加在压电陶瓷上的直流偏压吗？

答：setpoint只是一个设定值，并不是直接加在陶瓷片上的直流偏压。

 

 9   AFM可以在平台上加偏压吗？如果能一般能加到多大？

答：可以加在样品台上，最大可以加到10000 mV。

 

 10   黏附力测试没有那么平滑怎么办？

答：可能是测试时外界噪声影响，建议测试时减小ramp频率，后期可以通过软件将曲线适当平滑处理。

 

 11   样品盘找不到镜头已经降到最底下了怎么办？

答：考虑显微镜聚焦没调节好，一般在倒影相调好样品虚像后再切换到sample相继续往下聚焦至样品实像。

 

 12   片层两边黑是假象，怎么去掉？

答：片层两边黑是由于起伏对比度的差异，可以采用plane fit一阶拉平的方式，注意框选同一个面上的点。

 

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