【摘要】 Simura等人采用自制x射线发生器、四圆衍射仪和紧凑型能量色散探测器组成了单晶x射线衍射(XRD)测量系统，以获取包含选择性能量X射线异常散射效应的XRD数据。

在常规X射线晶体结构分析中，利用X射线衍射(XRD)数据，如Miller指数(hkl)和X射线衍射反射强度，以及结构模型提供的相，用傅里叶合成法计算电子密度分布。单胞中的原子位置(原子位)由电子密度分布的峰值位置决定。

 

相邻原子的电子密度分布相似，这意味着常规的XRD分析通常难以区分相邻元素的原子。然而，在特定原子的x射线吸收边缘附近发生的异常X射线散射(AXS)现象可以用来直接确定原子的原子位置。

 

＆-synthesis是利用两种不同能量的X射线在吸收边缘附近所获得的X射线衍射强度的差异进行分辨的典型方法之一。利用入射单色仪对高强度同步辐射进行单色处理，收集了＆-synthesis的数据。

 

固态探测器是一种能量色散探测器，它可以探测特定X射线能量下的强度，这使得在不显著降低入射X射线强度的情况下获得特定x射线能量下的XRD强度数据成为可能。

 

Simura等人[1]采用自制x射线发生器、四圆衍射仪和紧凑型能量色散探测器组成了单晶x射线衍射(XRD)测量系统，以获取包含选择性能量X射线异常散射效应的XRD数据。所得数据可用于晶体结构分析，通过＆合成方法确定特定元素的原子位置。

 

用传统的XRD分析方法无法区分Sr和Y相邻元素的Sr3Y(BO3)3单晶进行了表征。

 

[1] Simura R , Yamane H , Sakakura T ,et al.In-house-built single-crystal anomalous X-ray diffraction measurement system using white X-rays and an energy dispersive detector[J].Journal of the Ceramic Society of Japan, 2021, 129(9):594-600.

 

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