【摘要】 探测内转换电子方法能用于研究5 nm～300 nm厚度的表面层，因而是研究表面性质的得力方法。

(4)探测内转换电子

探测内转换电子方法能用于研究5 nm～300 nm厚度的表面层，因而是研究表面性质的得力方法。一般需要把吸收体样品置于探测器内部，以求达到足够的探测率。在这种方法中，本底主要由二次光电子引起，本底计数一般较小。

探测器腔体内有两根阳极丝，工作时施加高压，样品置于其后。当γ射线射到样品表面上，出射的内转换电子处于这个高压电场中，电子向阳极丝高速运动。在腔体内有流动的氦气，氮气中掺有4～6%的甲烷。由于气体的电离放大作用，有利于增大阳极丝上的电流。用这种方法获得的穆斯堡尔谱（CEM)峰是向上的，这与吸收谱是相反的。

值得注意的是含甲烷的氦气的供给问题。因氮气价格较贵，为了减少该混合气的消耗，一般采用慢流速供气法。混合气体从钢瓶流出，经减压后通过针阀进入探测器，从探测器出来再经缓冲瓶排出。探测器内压力和气体流速可通过针阀和出气孔两处调节。一般使用这种方法时把气体流量缩小至0.5 cm3 / min仍能保证探测器稳定地工作。如不加控制或流速不稳定将使气体密度变化而导致转换电子能谱曲线不稳定，这对反映表层深度的电子能谱区段的解释是不利的。常常因为气体流速的改变影响测试结果的一致性，因此控制气体流量是很重要的。图1给出气体流速与能谱曲线的关系图。

 

图1 气体流速与能谱曲线的关系图

 

人们研制了多种背散射探测器，同一台探测器既可探测转换电子又可探测二次γ射线和X射线。这种新型探测系统在配备多路穆斯堡尔谱仪后，还能同时获取内转换电子（或X射线、背散射γ射线）和透射的穆斯堡尔谱，这对于表面结构与体相结构的对比研究是十分有利的。

 

[1]牛紫平. 内转换电子穆斯堡尔谱研究[D]. 兰州大学, 2002.