【摘要】 红外热成像无损检验提供图像(温谱图)，其中感兴趣的区域(缺陷)有时显示为细微的特征。

无损检测中的红外热成像(IRNDT)提供图像(热像图),其中感兴趣的区域(缺陷)有时表现为细微的特征，这是由于从红外相机的自发射到收集数据的表面的不均匀特性的所有因素使红外(IR)图像降级。此外，相对于可见光波段，红外热波段(2-5和8-12微米)的波长较长，热波段的信号本质上较弱，因为释放了光子能量W由于物质内部粒子的振荡性质，它与波长成反比。红外热成像无损检验提供图像(温谱图)，其中感兴趣的区域(缺陷)有时显示为细微的特征。在这种情况下，原始图像通常是不合适的，因为大多数会被错过。在其他一些情况下，需要的是定量分析，例如缺陷检测和表征。年复一年，世界上已经开发出各种特别适用于IRNDT的数据分析方法。有趣的是，除了来自“计算机视觉”领域的传统技术外，还开发了几种用于红外无损检测的特定方法。这些独特的技术有时是基于潜在的热传导物理学。实际上，观察到红外图像主要由于以下影响而退化：有限孔径引起的渐晕、像素读取程序引起的常用焦平面阵列(FPA)中的固定模式噪声(FPN)、FPA矩阵中死像素的存在以及相对于光学中心的非共线图像点引起的径向失真。根据具体情况，必须考虑这些影响中的一个或全部。脉冲热成像(PT)是红外无损检测中的一种常用方法。除PT外，还可提供锁定热成像(LT，也称为调制热成像)、步进加热(SH)或振动热成像(VT)。所有这些方法的区别主要在于对样品进行热刺激的方式[1]。

[1]C. Ibarra-Castanedo, D. González, M. Klein, M. Pilla, S. Vallerand, X. Maldague. Infrared image processing and data analysis[J]. Infrared Physics & Technology. 2004, 46(1-2): 75-83.

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