【摘要】 对于上述重建材料介电常数的方法，散射参数的振幅和谐振频率偏移是必要的。

透射/反射法和谐振法通常用于材料的介电常数测量，谐振法由于其准确性和对低损耗材料的高灵敏度而受到青睐。例如，波导谐振腔因其高品质因数和高灵敏度而非常受欢迎，这将有助于准确测定材料性能。然而，波导谐振腔的制作成本较高，而且在许多重要应用中难以实现。

 

对于上述重建材料介电常数的方法，散射参数的振幅和谐振频率偏移是必要的。因此，精确测量介电常数的散射参数是至关重要的。近年来，许多研究小组将基片集成波导(SIW)技术应用于介电常数的测量，使其成为该领域的热门技术。SIW 不仅具有成本低的优点，而且在保持传统波导的优点的同时便于与平面结构结合。然而，与传统的 SIW相比，很难感觉到介电常数的微小变化，因为用于重建介电常数的振幅和共振频率漂移的变化太小，传统的 SIW 无法区分这种材料。提高复介电常数测量灵敏度的有效方法近年来引起了研究者的极大兴趣。附加结构是一种有效的方法，以确保高灵敏度，以告知微弱的介电变化。在 SIW 上实现的一个平面 ε 近零隧道结构被用来获得不同材料的复介电常数，与传统的 SIW 腔相比，这种结构具有非常高的灵敏度。与此同时，具有互补开口谐振环(CSRR)的集成电路将使集成电路比传统的基板集成电路更加紧凑。

 

等效于 LC 共振模型的 CSRR，是由在谐振器平面法线方向上极化的电场激发的。正如之前的文献报道的那样，Boybay、穆罕默德 · 赛义德和奥马尔首次提出了基于 CSrRs 的介电角色塑造测量方法。具有 CSRR 结构的微带线技术具有很高的测量灵敏度，但样品制备是一个具有挑战性的问题。被测试的固体样品必须保持圆形和方形等固定形状，厚度也必须至少为2-3毫米。在此基础上，CSRR 结构的微带线在样品制备方面有很多局限性。

 

材料介电测试在微波加热、微波化学和微波材料加工中具有重要意义。在这里，915兆赫和2.45千兆赫特别留出工业微波加热，2.45千兆赫是普遍使用和更广泛使用的高效率。此外，材料介电常数的精确测量结果可为微波应用提供有价值的信息。因此，我们必须准确地了解材料的介电性能在2.45 GHz 的实际微波加热应用。

 

1.Xiaoqing Yang, Lei Xin, Xingmin Jiao, Peiping Zhou, Shiyue Wu, Kama Huang, IET Science, Measurement & TechnologyVolume 11, Issue 5Aug 2017Pages525-680, DOI: 10.1049/iet-smt.2016.0361.

 

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