【摘要】 本项目利用聚焦离子束FIB，对材料样品做截面打薄制样，同时配合透射电子显微镜（TEM）完成对样品内部结构微观特征的观察和晶格、衍射分析，帮助研发人员了解三元正极中材料的相转变过程，从而为开发合适的三元正极材料提供指导。

科学指南针-正极内部微裂纹晶界

 

三元多晶材料在充放电过程中易出现晶界处应力积累，导致颗粒晶间产生裂纹，产生岩盐相，从而阻碍锂离子传递，降低材料结构稳定性，本项目利用聚焦离子束FIB，对材料样品做截面打薄制样，同时配合透射电子显微镜（TEM）完成对样品内部结构微观特征的观察和晶格、衍射分析，帮助研发人员了解三元正极中材料的相转变过程，从而为开发合适的三元正极材料提供指导。

取微量样品直接粘到导电胶上，利用聚焦离子束FIB进行透射载网制样，制样完成后放进

 

透射电子显微镜-能谱仪（TEM-EDS)

拍摄样品形貌和能谱mapping测试。可以直接观察到晶界的分布、晶界的界限、循环后的颗粒的裂纹、缺陷以及晶格条纹和晶面物相分析。

适用于：

锂电池（正极材料）

检测仪器：

透射电子显微镜（TEM）

案例分享

三元正极截面微裂纹形貌与衍射图

三元正极截面微裂纹形貌与衍射图

 

元素分布图

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