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光电子能谱仪(XPS)
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项目简介
XPS表面元素分析，通过对表面常规全谱窄谱测试、俄歇谱、价带谱、深度溅射等分析材料表面元素分布
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样品要求
1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品
2. 粉末样品：20-30mg
3. 块状、薄膜样品：块体/薄膜样品尺寸小于5*5*3mm
常见问题
