
光电子能谱仪(XPS)
95.8%
好评率
项目简介
XPS表面元素分析,通过对表面常规全谱窄谱测试、俄歇谱、价带谱、深度溅射等分析材料表面元素分布
样品要求
1. 样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品
2. 粉末样品:20-30mg
3. 块状、薄膜样品:块体/薄膜样品尺寸小于5*5*3mm
常见问题

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XPS表面元素分析,通过对表面常规全谱窄谱测试、俄歇谱、价带谱、深度溅射等分析材料表面元素分布
1. 样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品
2. 粉末样品:20-30mg
3. 块状、薄膜样品:块体/薄膜样品尺寸小于5*5*3mm
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