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      CMA认证类测试

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      预约次数 1046次
      服务周期 收到样品后平均7.9个工作日完成

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      项目简介

      CMA检测服务项目由研友检测技术(南京)有限公司、南京研科检测技术有限公司在许可范围内对应提供服务。

      CMA认证范围内所包含的指标内容,包含:

      仪器

      型号

      可做的项目

      X射线光电子能谱仪(XPS)

      Thermo Scientific K-Alpha

      定性分析

      (样品含有元素种类)

      紫外和可见吸收光谱(UV-Vis Abosorbance Spectrum)

      UV-3600i Plus

      定性分析

      扫描电子显微镜(SEM)

      FEI Scios 2 HiVac

      形貌分析

      颗粒粒径

      金属断口微观形貌

      微米级长度

      透射电子显微镜(TEM)

      FEI Talos F200X G2

      形貌测定

      (可做点、线和面扫,仅定性分析样品里含有的元素种类)

      形貌分析

      同步热分析(TG-DSC)

      Netzsch STA 449F5

      玻璃化转变温度

      熔融温度

      质量损失

      {{moduleItem.modulename}}

      结果展示

      一、扫描电子显微镜(SEM

      1. 形貌分析

      2. 金属断口微观形貌

      3. 颗粒粒径

      4. 微米级长度

      二、X射线光电子能谱仪(XPS

      XPS定性分析(样品全谱及包含各元素的窄谱)

      三、同步热分析(TG-DSC

      1. 质量损失

      2. 玻璃化转变温度

      3. 熔融和结晶温度

      四、透射电子显微镜(TEM

      1. 形貌分析

                                           高分辨像                                                                                        明场像

                                           离轴暗场像                                                                                       中心暗场像

                                         STEM                                                                                        选区电子衍射花样

      2. 形貌测定

      2.1 能谱点扫

      2.2 能谱线扫

      2.3 能谱面扫

      样品要求

      样品要求
      1、XPS
      (1)粉末样品提供20-30mg,量少请用铝箔纸包好再装到管子里寄送;块状/薄膜:长宽厚不超5*5*3mm。
      (2)不接含Br、I、Hg的样品。

      2、TG-DSC
      (1)粉末样品准备20mg左右,块体样品尺寸不要大于直径3mm,高2mm。
      (2)如果样品含酸根、卤素、硫等成分,请先联系相关负责老师沟通确认可做,再下单。

      3、紫外
      (1)粉末样品一般需要100mg以上,块状或薄膜样品要求尺寸>=1*1cm。
      (2)类似基底上带膜的块体样品,想要扣除基底的影响,需要准备2块空白基底。

      4、SEM
      (1)  粉末、液体、薄膜、块体均可。粉末10mg,块体样品直径≤1cm,厚度<1cm,样品质量不超过200g;
      (2) 混凝土,珊瑚沙,气凝胶,水凝胶等需要抽真空时间非常长的样品尺寸请尽可能直径≤5mm,厚度≤5mm,送样前请一定跟当地项目经理确认后再下单;
      (3)  需要脆断的样品,尺寸需要≥2*2cm,厚度<0.5cm,较厚的样品建议尺寸准备大些;

      5、TEM
       (1)可测试非磁和弱磁的粉末和液体,薄膜或块状样品不能直接拍摄,需另行制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等);
      (2) 样品的厚度不超过100nm,如果颗粒稍大一点,可适当研磨至100nm以下(可先拍SEM判定颗粒大小);

      常见问题

      0.

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