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球差校正透射电子显微镜
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项目简介
可达到亚埃级，常用于纳米材料精准表征，获取微观原子排布，微区结构和元素分布信息。可得到高分辨率像(HRTEM)，单原子图像，haddf(高角环形暗场)，eels(电子能量损失谱), mapping等。
（1）HRTEM：高分辨透射电子显微镜 (HRTEM) 模式利用球差的高分辨率能力，可以观察晶体内部的原子排列、晶体缺陷等微观结构；
（2）HAADF：通过收集高角度散射的电子成像，具有高衬度和高分辨率，特别适合观察重元素样品，例如金属和矿物；
（3）EELS：电子能量损失谱 (EELS) 可以分析样品的化学信息，例如元素价态、成键类型、电子结构等，结合球差的高分辨率，还可以进行纳米尺度的化学分析；
（4）MAPPING：对样品进行元素分布 Mapping 分析，可以获得样品中不同元素的空间分布信息，用于成分分析和材料表征；
（5）IDPC：低剂量直接相位对比成像 (iDPC) 技术可以在低剂量条件下获得高对比度和高信噪比的图像，特别适合观察易受电子束损伤的样品，例如生物样品。
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结果展示
案例1：锂离子电池的原子相和mapping
案例2：HAADF和IDPC模式下钛酸铋钠原子相
案例3：纳米复合材料的haadf 和 mapping
样品要求
1、块体用FIB制样，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右；
2、纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样；
3、含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性；
4、可提供寄样，云视频，现场测试服务。
常见问题
1. 样品为什么会积碳，积碳有什么影响？
答：样品中有机物的影响，制备过程含有机物，或者样品吸附空气中污染物；积碳会影响STEM模式的拍摄效果，让视野模糊不清。
2. 有什么方法可以改善积碳带来的影响？是否一定有用？
答：等离子清洗制好样的载网，但有洗坏样品的风险，可以会导致负载颗粒脱落等风险；电子束辐照样品一段时间，理论上会有改善，但是实际不一定会有明显效果。
3. 拍摄单原子时，为什么整片区域都是很亮的，看不清单个的？
答：可能是因为样品太厚，或者负载量太大等原因。
4. 为什么拍不到原子分辨率的mapping和eels？
答：原子相要求样品很薄，但样品薄的话能谱信号和eels号会比较弱，不利于收集信号。而想要拍到原子分辨率的mapping和eels就要求样品很薄，很稳定，能长时间收集信号，且要求原子序数都比较大的，一般样品很难同时符合这几个要求。
5. 拍球差的样品为什么要很薄？
答：薄的样品可以减少电子在样品中的弹射次数，分辨率就会比较高。
6. 样品很厚是不是制样时没有超声好？
答：球差一般是拍样品边缘几个nm的区域，所以对于原子相样品团聚不会影响到拍摄效果，但样品本身很厚就会有影响，与超声分散的效果没有关系，与样品本身的厚薄有关。
7. 拍摄球差前，为什么要TEM筛样？
提前上透射看一下样品是否符合预期、是否有薄区可以拍摄球差。如果不提前筛样，拍摄中可能会出现样品基底厚度偏厚，结晶性差，无法拍摄出清晰的原子像或单原子。
