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    400元
    2025-02-18

    项目简介

    可达到亚埃级,常用于纳米材料精准表征,获取微观原子排布,微区结构和元素分布信息。可得到高分辨率像(HRTEM),单原子图像,haddf(高角环形暗场),eels(电子能量损失谱), mapping等。

    (1)HRTEM:高分辨透射电子显微镜 (HRTEM) 模式利用球差的高分辨率能力,可以观察晶体内部的原子排列、晶体缺陷等微观结构;

    (2)HAADF:通过收集高角度散射的电子成像,具有高衬度和高分辨率,特别适合观察重元素样品,例如金属和矿物;

    (3)EELS:电子能量损失谱 (EELS) 可以分析样品的化学信息,例如元素价态、成键类型、电子结构等,结合球差的高分辨率,还可以进行纳米尺度的化学分析;

    (4)MAPPING:对样品进行元素分布 Mapping 分析,可以获得样品中不同元素的空间分布信息,用于成分分析和材料表征;

    (5)IDPC:低剂量直接相位对比成像 (iDPC) 技术可以在低剂量条件下获得高对比度和高信噪比的图像,特别适合观察易受电子束损伤的样品,例如生物样品。

    结果展示

    案例1:锂离子电池的原子相和mapping

     

    案例2:HAADF和IDPC模式下钛酸铋钠原子相

     

    案例3:纳米复合材料的haadf 和 mapping

    样品要求

    1、块体用FIB制样,厚度30nm左右;粉末提供10mg左右;

    2、纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样;

    3、含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性;

    4、可提供寄样云视频现场测试服务。

    常见问题

    1. 样品为什么会积碳,积碳有什么影响?

    答:样品中有机物的影响,制备过程含有机物,或者样品吸附空气中污染物;积碳会影响STEM模式的拍摄效果,让视野模糊不清。

    2. 有什么方法可以改善积碳带来的影响?是否一定有用?

    答:等离子清洗制好样的载网,但有洗坏样品的风险,可以会导致负载颗粒脱落等风险;电子束辐照样品一段时间,理论上会有改善,但是实际不一定会有明显效果。

    3. 拍摄单原子时,为什么整片区域都是很亮的,看不清单个的?

    答:可能是因为样品太厚,或者负载量太大等原因。

    4. 为什么拍不到原子分辨率的mapping和eels?

    答:原子相要求样品很薄,但样品薄的话能谱信号和eels号会比较弱,不利于收集信号。而想要拍到原子分辨率的mapping和eels就要求样品很薄,很稳定,能长时间收集信号,且要求原子序数都比较大的,一般样品很难同时符合这几个要求。

    5. 拍球差的样品为什么要很薄?

    答:薄的样品可以减少电子在样品中的弹射次数,分辨率就会比较高。

    6. 样品很厚是不是制样时没有超声好?

    答:球差一般是拍样品边缘几个nm的区域,所以对于原子相样品团聚不会影响到拍摄效果,但样品本身很厚就会有影响,与超声分散的效果没有关系,与样品本身的厚薄有关。

    7. 拍摄球差前,为什么要TEM筛样?

    提前上透射看一下样品是否符合预期、是否有薄区可以拍摄球差。如果不提前筛样,拍摄中可能会出现样品基底厚度偏厚,结晶性差,无法拍摄出清晰的原子像或单原子。

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