原位XPS
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项目简介
原位XPS(原位X射线光电子能谱)是一种先进的表面分析技术,可以在特定环境条件(如高低温、气氛控制等)下实时监测材料表面的化学状态和电子结构,进而提供更真实的材料行为信息。
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样品要求
1. 粉末样品提供50mg,量少请用称量纸包好再装到管子里寄送;
2. 块状/薄膜:长宽厚不超出5*5*10mm;
3. 测试说明:原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号!元素窄谱测试默认测最强峰轨道,H、He元素不可以测试,元素Li-Mg测试1s轨道,Al-Zn测试2p轨道,Ga-Dy测试3d轨道,Ho-Lu测试4d轨道,Hf-Cm测试4f轨道。如有特殊要求请备注;
4. 样品要充分干燥,干燥不充分的样品、多孔材料、样品尺寸比较大的,抽真空时间会相对比较长;
常见问题
1. 每种元素的检测限一样么?
不一样。每种元素的主峰的灵敏度因子都不一样。
2. 样品精细谱扫出谱峰?为什么全谱里没有呢?
全谱主要是用来定性分析的,设置参数的步长比较大,含量低的在全谱里扫不出谱峰。但是精细谱扫出谱峰就表示有该元素。
3. XRD能测到,为什么xps测不到?
XRD是本体分析,XPS是表面分析,两者获得的成分信息深度不同,没有可比性。