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    冯**
    香港城市大学
    原位XPS
    24.4
    Advanced Energy Materials
    500元
    2024-09-21
    贺**
    延安大学
    原位XPS
    16.744
    Chemical Engineering Journal
    500元
    2022-07-28
    赵**
    河北工业大学
    原位XPS
    13.7
    ACS Catalysis
    500元
    2023-06-26
    李**
    天津大学
    原位XPS
    12.2
    Journal of Hazardous Materials
    300元
    2024-10-22
    张**
    中国石油大学(华东)
    原位XPS
    9.4
    Journal of Colloid and Interface Science
    300元
    2024-12-21
    贾**
    济南大学
    原位XPS
    8.008
    Analytical Chemistry
    300元
    2022-08-13
    刘**
    西南科技大学
    原位XPS
    5.1
    Ceramics International
    200元
    2024-08-20

    项目简介

    原位XPS(原位X射线光电子能谱)是一种先进的表面分析技术,可以在特定环境条件(如高低温、气氛控制等)下实时监测材料表面的化学状态和电子结构,进而提供更真实的材料行为信息。

    样品要求

    1. 粉末样品提供50mg,量少请用称量纸包好再装到管子里寄送;

    2. 块状/薄膜:长宽厚不超出5*5*10mm;

    3. 测试说明:原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号!元素窄谱测试默认测最强峰轨道,H、He元素不可以测试,元素Li-Mg测试1s轨道,Al-Zn测试2p轨道,Ga-Dy测试3d轨道,Ho-Lu测试4d轨道,Hf-Cm测试4f轨道。如有特殊要求请备注;

    4. 样品要充分干燥,干燥不充分的样品、多孔材料、样品尺寸比较大的,抽真空时间会相对比较长;

    常见问题

    1. 每种元素的检测限一样么?

    不一样。每种元素的主峰的灵敏度因子都不一样。

    2. 样品精细谱扫出谱峰?为什么全谱里没有呢?

    全谱主要是用来定性分析的,设置参数的步长比较大,含量低的在全谱里扫不出谱峰。但是精细谱扫出谱峰就表示有该元素。

    3. XRD能测到,为什么xps测不到?

    XRD是本体分析,XPS是表面分析,两者获得的成分信息深度不同,没有可比性。

     
     
     
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