
原位XRD
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项目简介
原位XRD是利用X射线衍射原理,通过分析样品在不同条件(如温度、压力、电场等)下的衍射峰位置、强度和形状,实时监测材料的晶体结构、相变及微观结构变化。与传统非原位XRD相比,原位XRD能够在材料反应过程中实时获取结构信息,避免因样品处理导致的信息丢失。
可应用以下领域:
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样品要求
1、粉末样品请准备至少50mg,0.1g以上最好,量少可以用微量室,但是效果相对不是很好。需要粒度均匀(粒度在45um左右或过200目筛子),手摸无颗粒感,面粉质感;
2、块状样品要求长宽1-2cm(一般不小于1cm),厚度3mm,需要注明测试面,测试面需要平整光洁。
常见问题
