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库仑测厚仪
96.3%
好评率
仪器型号
德国Helmut-fischer+CMS STEP
已测试样品
1033个
常规周期
6个工作日
部分论文致谢
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项目简介
库仑测厚仪（又称电解测厚仪或电化学镀层测厚仪）是一种基于电化学溶解原理，通过精确测量镀层溶解电量来计算厚度的精密仪器。它被公认为镀层厚度测量的仲裁方法，尤其适用于科研与高精度质量控制场景：
1.高精度仲裁检测
（1）校准XRF/光谱法等间接测量设备
（2）争议性厚度数据的最终判定（如军工、航天件验收）
2.复杂镀层体系分析
（1）多层镍镀层（半光亮镍/光亮镍/镍封）的单层厚度测量
（2）局部镀层厚度分布（如PCB金手指边缘增厚效应）
3.腐蚀动力学研究
（1）通过电位-时间曲线解析镀层溶解行为
（2）计算腐蚀速率与孔隙率（科研级数据）
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样品要求
1.可接受的样品状态：块体、薄膜镀层；
2.样品尺寸要求：10×10×1mm-20×20×3mm；
3.测试量程：0.05um-40um。
常见问题
1. 库仑法相比X射线荧光（XRF）有何不可替代性？
答：库仑法是唯一绝对测量法，在以下场景不可替代：
-
仲裁争议厚度数据（如军工验收）
-
超薄镀层（＜0.1μm）精度要求±0.01μm
-
多层镀特定分层测量（如区分双层镍）
2. 能否测量非导电基材上的金属镀层？
答：不可直接测量！可通过以下方案进行优化解决：
方案1：切割制样→ 改用金相截面法
方案2：微损处理→ 局部喷涂导电层
