SEM-Raman –FIB-TOF-SIMS联用
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项目简介
一次进样可完成SEM-Raman-EDS –TOF-SIMS同一微区的原位表征,实现同位置一体化数据采集,实现对样品微区信息的综合采集。
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结果展示
1、元素偏析的物相分析:采用SEM+FIB+EDS+tof-sims+RISE联用

2、锂和微量元素分析:采用SEM+FIB+EDS+tof-sims联用

样品要求
1、样品必须为固体或干燥样品;
2、稳定,在真空中及电子书轰击下不会发生挥发及变形;
3、含水分较多的生物软组织样品制备,要求进行临界点干燥处理,观察图像前应先喷金。
4、样品尽量小块些(≤10*10*5mm较为方便),纳米样品一般需要超声波分散并镀膜。
5、 以下样品不能测试:
(1)低熔点样品,高密度束流溅射后可能会融化;
(2)在制样过程中容易快速潮解的样品;
(3)有磁性,放射性和腐蚀性的样品;
(4)样品含有有机试剂(乙酸乙酯,氯仿等)
(5)强导电性差的绝缘样品。
6、送样要求
(1)衬底的选择: 通过溶液涂膜的方法制备薄膜样品时,最好使用表面平整的导体及半导体作为衬底;
(2)待测试样表面不能被沾污 :勿用手摸拿触碰样品污染样品,制样装样过程均要注意;
(3)装试样:不要直接使用塑料袋、含硅的胶带和纸袋装样品,以免硅树脂或纤维污染样品(可用干净的铝箔包裹样品后放入干净的玻璃容器中);
(4)测试面标记方法:对薄膜、片状、块体样品标记出测试面,千万不能使用墨水笔在样品标记测试面,以免墨水中的有机试剂污染待测表面。(建议使用刀片在不测的一面画叉);
常见问题







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