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飞行时间二次离子质谱仪-探测材料表面信息 查看全部内容>>

飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)被认为是探测不同材料表面特性的一种有力的工具。

2024-03-26

3701

利用飞行时间二次离子质谱原位显示全固态锂离子电池中锂的浓度 查看全部内容>>

扫描电子显微镜-能量色散 X 射线光谱法(SEM-EDS)和飞行时间二次离子质谱法(toF-SIMS)是目前用于测量样品表面元素分布的可行方法。

2024-03-26

4253

飞行时间二次离子质谱仪的高质量分辨率多反射 查看全部内容>>

在这项工作中，设计并构建了一个高分辨率的多反射飞行时间二次离子质谱仪（MR-TOF-SIMS）。

2024-03-25

3108

飞行时间二次离子质谱仪一种新型的脂质成像工具拉曼光谱用于病毒诊断 查看全部内容>>

在细胞水平上，分子通过基于亲和力的方法，如免疫化学或荧光显微镜，直接从生物组织中绘制。

2024-03-25

2969

飞行时间二次离子质谱法在显示全固态锂离子电池中的锂浓度的应用 查看全部内容>>

在该系统中，样品由两块相互电气隔离的不锈钢板夹持。

2024-03-25

3025

400-831-0631 研趣

9:00—18:00(法定节假日除外)

总部地址：浙江省杭州市西湖区西园八路2号银江软件园B座1层、2层

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在细胞水平上，分子通过基于亲和力的方法，如免疫化学或荧光显微镜，直接从生物组织中绘制。

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