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      SEM现场/云现场-全国

      电话:400-831-0631

      项目简介

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      结果展示

      样品要求

      常见问题

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      最低低至360元

      SEM现场/云现场-全国

      99.8%

      好评率

      仪器型号 Hitachi Regulus8100;Zeiss Sigma 300;Zeiss Gemini 300;TESCAN MIRA4等
      预约次数 64035次
      服务周期 收到样品后平均2.8-9.2工作日完成

      部分论文致谢

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      项目简介

          “云现场”实验是科学指南针推出的一款黑科技视频网络体验,用户只需要一部电脑或者移动设备,即可在任何时间、任何地点发起或参与测试过程,实现各种信息的实时共享与协作。测试过程实时直连测试仪器屏幕,与测试老师一对一沟通选区拍摄,所见即所得,媲美现场实验。

      一、预约云现场注意事项:

      1、抽真空时间含在测试总时长内,即从样品进仓开始计时,常规样品抽真空时间5-10分钟,孔道复杂或较大样品如混凝土,珊瑚沙,气凝胶,水凝胶,木材等样品抽真空时间较长,可能在30分钟或以上;

      2、测试项目含形貌拍摄,能谱点扫,线扫和面扫,最好在提交订单的时候填写好测试要求,尽量不要测试过程临时增加需求,如需临时增加测试内容最终收费会按实际测试时长计算;

      3、云视频测试时长1小时起约,不同样品拍摄速度不均一,平均下来,拍摄速度一般4个样/小时(仅供参考),需要拍摄高倍并且需要打能谱的样品一般拍摄速度更慢些,具体请根据实际拍摄要求准确预约时长

      4、最好不要超时,一般情况下,后面会安排其他客户测试,尽量预约足够时间,比如约了 2 小时,最多可测试时间是 2 小时,2 小时后会结束测试,请合理安排时间;如果后面时间 没有其它客户,可以适当延长,费用按实际最终测试总时长计算,多退少补;

      5、如临时有事需取消预约,请提前 24 小时联系,可以免费取消,如未提前告知,造成机时损失,按预约时间半价收费;

      6、在拍摄过程中遇到问题您有权随时叫停测试,最终测试费用会根据实际测试时长多退少补。

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      结果展示

      不同型号仪器结果形式会有差别,下面展示的是 Zeiss 品牌SEM的结果,仅供参考。

      1、SEM 形貌的测试参数解读如下图所示:

      2、SEM-EDS能谱测试参数解读如图所示:

      点扫:

      线扫:

      面扫(Mapping):

       

      样品要求

      一、制样说明

      1、粉体样品,常规粉末直接粘到导电胶上测试,如需分散后测试请提前说明;

      2、液体样品,测试老师根据样品要求及实验室条件,随机选择滴到硅片或铝箔上,如有指定要求请提前说明;

      3、薄膜或块体,请标明测试面,如需测试截面,请自行自备截面或提前说明截面制备方式。

      二、样品要求

      粉末、液体、薄膜、块体均可测试,粉体样品大概10mg,块体样品要求长宽≤1cm,厚度≤1cm;

      混凝土,珊瑚沙,气凝胶等需要抽真空时间非常长的样品尺寸请尽可能直径≤5mm,厚度≤5mm;

      需要脆断的样品,尺寸需要≥2*2cm,厚度<0.5cm,较厚的样品建议尺寸准备大些;

      要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击

      三、注意事项
      1. 样品含水,湿润是不能做SEM的;
      2. 易分解样品需明确分解条件(如温度等),若样品极易分解可能不能安排测试,因为分解后产生物质可能对测试仪器造成影响;
      3. 水凝胶等易吸潮样品寄样前请先确认样品暴露 4-5h 内是否会出现明显的吸潮现象,测试过程中样品吸潮会影响拍摄的同时也会对仪器造成损伤;
      4. 导电性不好(如半导体金属氧化物、生物样品及塑料、陶瓷等)或强磁样品建议选择喷金,不喷金可能会影响拍摄效果。

      常见问题

      1. 不导电或导电差的样品,为什么要喷金?

      SEM成像,是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好,会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走,一定程度后就反复出现充电放电现象(charging),最终影响电子信号的传递,造成图像扭曲,变形、晃动等现象,喷金后样品表面导电增强,从而避免积电现象。

      2. 喷金后,对样品形貌是否有影响?

      样品表面喷金后,只是在其表面覆盖了几个到十几个金原子层,厚度只有几个纳米到十几个纳米而已,对于看形貌来说,几乎是没有什么影响的。

      3. 扫描电镜能谱点扫,线扫和mapping之间的区别?

      能谱点扫,线扫和mapping分别是在点范围,线范围,和面范围内获得样品的元素半定量信息,线扫和mapping除此之外还能分析元素在线或面范围内的分布情况。它们的意义在于点扫可以测试材料某一位置的元素种类和含量,面扫(mapping)的意义主要在于了解材料元素的区域分布,线扫的意义在于了解材料一条线上各个点的元素含量的变化。

      4. 磁性样品会对电镜有影响吗?

      电子枪发射出的电子,一般都是由磁场汇聚,当样品含有磁性的时候很容易磁化电镜的"心脏"部件-极靴,同时容易吸附到极靴表面或光学通道上,因此磁性样品的测试可能会给电镜带来损害,承接磁性样品的检测单位也需要去承担相应的风险。

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