SEM现场/云现场-全国
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项目简介
“云现场”实验是科学指南针推出的一款黑科技视频网络体验，用户只需要一部电脑或者移动设备，即可在任何时间、任何地点发起或参与测试过程，实现各种信息的实时共享与协作。测试过程实时直连测试仪器屏幕，与测试老师一对一沟通选区拍摄，所见即所得，媲美现场实验。
一、预约云现场注意事项：
1、抽真空时间含在测试总时长内，即从样品进仓开始计时，常规样品抽真空时间5-10分钟，孔道复杂或较大样品如混凝土，珊瑚沙，气凝胶，水凝胶，木材等样品抽真空时间较长，可能在30分钟或以上；
2、测试项目含形貌拍摄，能谱点扫，线扫和面扫，最好在提交订单的时候填写好测试要求，尽量不要测试过程临时增加需求，如需临时增加测试内容最终收费会按实际测试时长计算；
3、云视频测试时长1小时起约，不同样品拍摄速度不均一，平均下来，拍摄速度一般4个样/小时（仅供参考），需要拍摄高倍并且需要打能谱的样品一般拍摄速度更慢些，具体请根据实际拍摄要求准确预约时长；
4、最好不要超时，一般情况下，后面会安排其他客户测试，尽量预约足够时间，比如约了 2 小时，最多可测试时间是 2 小时，2 小时后会结束测试，请合理安排时间；如果后面时间 没有其它客户，可以适当延长，费用按实际最终测试总时长计算，多退少补；
5、如临时有事需取消预约，请提前 24 小时联系，可以免费取消，如未提前告知，造成机时损失，按预约时间半价收费；
6、在拍摄过程中遇到问题您有权随时叫停测试，最终测试费用会根据实际测试时长多退少补。
2、能谱：SEM能谱一般只能测C（含C）以后的元素，（B元素也能做，但是不准，不建议做）如果需要打能谱，需要备注好测试位置以及能谱打哪些元素，需要注意的是制样时待测元素不能与基底成分有重合，如果要测C元素，样品不要分散到含C的基底上，可以分散到硅片，锡纸上，如果要测Si元素，注意不要制样到硅片上。
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结果展示
不同型号仪器结果形式会有差别，下面展示的是 Zeiss 品牌SEM的结果，仅供参考。
1、SEM 形貌的测试参数解读如下图所示：
2、SEM-EDS能谱测试参数解读如图所示：
点扫：
线扫：
面扫（Mapping）：
样品要求
一、制样说明
1、粉体样品，常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试请提前说明；
2、液体样品，测试老师根据样品要求及实验室条件，随机选择滴到硅片或铝箔上，如有指定要求请提前说明；
3、薄膜或块体，请标明测试面，如需测试截面，请自行自备截面或提前说明截面制备方式。
二、样品要求
粉末、液体、薄膜、块体均可测试，粉体样品大概10mg，块体样品要求长宽≤1cm，厚度≤1cm；
混凝土，珊瑚沙，气凝胶等需要抽真空时间非常长的样品尺寸请尽可能直径≤5mm，厚度≤5mm；
需要脆断的样品，尺寸需要≥2*2cm，厚度＜0.5cm，较厚的样品建议尺寸准备大些；
要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。
- 样品含水，湿润是不能做SEM的；
- 易分解样品需明确分解条件（如温度等），若样品极易分解可能不能安排测试，因为分解后产生物质可能对测试仪器造成影响；
- 水凝胶等易吸潮样品寄样前请先确认样品暴露 4-5h 内是否会出现明显的吸潮现象，测试过程中样品吸潮会影响拍摄的同时也会对仪器造成损伤；
- 导电性不好（如半导体金属氧化物、生物样品及塑料、陶瓷等）或强磁样品建议选择喷金，不喷金可能会影响拍摄效果。
常见问题
1. 不导电或导电差的样品，为什么要喷金？
SEM成像，是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好，会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图像扭曲，变形、晃动等现象，喷金后样品表面导电增强，从而避免积电现象。
2. 喷金后，对样品形貌是否有影响？
样品表面喷金后，只是在其表面覆盖了几个到十几个金原子层，厚度只有几个纳米到十几个纳米而已，对于看形貌来说，几乎是没有什么影响的。
3. 扫描电镜能谱点扫，线扫和mapping之间的区别？
能谱点扫，线扫和mapping分别是在点范围，线范围，和面范围内获得样品的元素半定量信息，线扫和mapping除此之外还能分析元素在线或面范围内的分布情况。它们的意义在于点扫可以测试材料某一位置的元素种类和含量，面扫（mapping）的意义主要在于了解材料元素的区域分布，线扫的意义在于了解材料一条线上各个点的元素含量的变化。
4. 磁性样品会对电镜有影响吗？
电子枪发射出的电子，一般都是由磁场汇聚，当样品含有磁性的时候很容易磁化电镜的"心脏"部件-极靴，同时容易吸附到极靴表面或光学通道上，因此磁性样品的测试可能会给电镜带来损害，承接磁性样品的检测单位也需要去承担相应的风险。
