形貌分析TEM

本台设备主要拍摄形貌和衍射（可拍到5nm标尺），加速电压200kv，点分辨率0.194nm，放大倍数x 2,000 – 1000,000，超高分辨UHR材料极靴，可以打衍射。

1. 粉体、液体可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，请另行预约制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）

2. 样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可适当研磨至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）；

3. 一般制样选微珊铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；

4. 磁性样品不接受自己制样。