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形貌分析TEM
98.8%
好评率
仪器型号
JEM-2100plus
已测试样品
1893个
常规周期
8个工作日
部分论文致谢
申请用户
高校
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影响因子
期刊名称
奖励现金
申请时间
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项目简介
本台设备主要拍摄形貌和衍射（可拍到5nm标尺），加速电压200kv，点分辨率0.194nm，放大倍数x 2,000 – 1000,000，超高分辨UHR材料极靴，可以打衍射。
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样品要求
1. 粉体、液体可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，请另行预约制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）
2. 样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可适当研磨至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）；
3. 一般制样选微珊铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；
4. 磁性样品不接受自己制样。
常见问题
