SEM测试优点与特点-材料测试-科学指南针

【摘要】电子显微镜分透射和扫描电镜两种，透射电镜（TEM）是观察样品中的内部结构：如细胞器等；扫描电镜（SEM）可观察样品中的表面形态结构。随着组织工程技术的发展兴起，如支架材料的制作后，需观察样品中的孔径大小，与细胞的相融性，生长形态变化等。用扫描电镜观察获得清晰图像，是重要的检测手段之一。

在做扫描电子显微镜（SEM）测试时，科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到，好多同学对SEM测试不太了解，针对此，科学指南针检测平台团队组织相关同事对网上海量知识进行整理，希望可以帮助到科研圈的伙伴们；

电子显微镜分透射和扫描电镜两种，透射电镜（TEM）是观察样品中的内部结构：如细胞器等；扫描电镜（SEM）可观察样品中的表面形态结构。随着组织工程技术的发展兴起，如支架材料的制作后，需观察样品中的孔径大小，与细胞的相融性，生长形态变化等。用扫描电镜观察获得清晰图像，是重要的检测手段之一。

景深长，视野广，图像呈三维立体结构，样品制作较透射电子显微镜简单，功能多，根据样品性质不同，其处理方法也有所区别，下面主要介绍组织工程支架、细胞、细胞外基质等样品的制作技术。

1.扫描电镜的特点：有较高的分辨率。钨灯丝可达 3nm

2.有较高的放大倍数，几倍到几十万倍之间连续可调，且高倍聚焦后缩小到低倍无需再聚焦

3.有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构

4.试样制备简单、使用方便

5.可搭配X射线能谱仪等其它分析装置，使扫描电镜成为集微观形貌成像和微区分析于一身的综合系统。

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