形貌TEM/台式XAFS 月月特惠测

冬日将至，寒风袭来，我们为您准备了两大热门测试的特惠，优惠连续四个月！

活动项目：形貌分析TEM（寄样/云现场）、台式XAFS吸收谱

活动仪器：左日本电子JEOL JEM-2100Plus，右Quantum Design型号 easyXAFS300

活动时间：11月23日-12月7日

活动分为两大部分，活动内容和仪器介绍见下

活动一：月月有优惠

立享无门槛8折，优惠无上限；

活动期间领券下单的用户，再连续三个月赠送专属9折券；

活动流程：活动订单完成后，系统自动赠送三张9折券到下单账户中，每月可生效一张；

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活动二：免费享好礼

真实评价测试结果送腾讯视频会员卡、奶茶券等

活动流程：订单完成后联系运营老师（企业微信）做订单评价等真实反馈，选择并兑换礼,品。

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仪器介绍一：形貌分析TEM（含云现场）

下单链接：

寄样：https://www.shiyanjia.com/buffet-828.html

云现场：https://www.shiyanjia.com/buffet-827.html 

• 仪器介绍

形貌分析TEM测试默认加速电压为200kV，可提供最小5nm标尺图片，提供tif格式数据文件，仅进行形貌拍摄和衍射分析。

设备型号：日本电子JEOL JEM-2100Plus，灯丝类型：LaB6，加速电压：80 - 200 kV，常规放大倍数：2000 - 1000000x ，相机：TOLARA 底装式CCD相机，图片分辨率：2752*2192，点分辨率：0.194nm。

设备特点：设备采用多级聚光镜设计，配有超高分辨率UHR材料极靴，束斑在不同尺寸下都可以提供高能电子束，具有较高分辨率和较好的微区分析能力。

应用场景：广泛应用于金属材料、半导体材料及复合材料等的形貌拍摄和结构表征。

• 样品要求

非磁或弱磁，结晶性好、耐电子辐照的粉末及液体样品，固体类样品不参加寄样测试活动哦，具体细节请联系项目经理确认。

另外有dm3格式的数据需求，或者有stem及能谱需求的老师可以预约F200等其他型号的设备（F200不参与此次活动）；

活动特惠价，性价比超高，不要错过机会哟~

仪器介绍二：台式XAFS吸收谱

下单链接：https://www.shiyanjia.com/buffet-834.html

• 仪器介绍

2013年首台实验室用台式XAFS谱仪诞生于美国华盛顿大学物理系Gerald T. Seidler教授课题组，并于2015年成立了easyXAFS公司，致力于实验室用台式XAFS谱仪在的推广和应用。

操作更便捷：可以同时进行多个样品的测试，无需使用同步辐射光源，常规实验环境中即可实现X射线吸收精细结构测量和分析

测试效果好：对于常规元素含量高的样品，测得的谱图效果可以媲美同步辐射;

国际认可：各大顶刊已顺利发表，如Advanced Functional Materials，JACS，ACS Applied Materials & Interfaces

价格更合适：台式价格相比同步辐射设备测试单价更便宜

测试更快速：同步辐射XAFS设备测试资源紧缺，机时固定且需要提前预约，拿到结果至少需要0.5~1个月，目前科学指南针台式XAFS测试，收到样品3天内可拿到实验结果

• 样品要求

1. 粉末样，所需样品量和样品中待测元素含量有关，具体请咨询工作人员；

块体/薄膜：长宽10-13mm左右，表面无裂缝，无孔洞。

2. 待测元素含量要求：质量分数≥3%；
3. 可测能量范围：5KeV~18KeV，测试模式为透射模式。
4. 目前拥有6种金属标样，分别是Fe、Co、Ni、Cu、Zn和Mn。

=科研很苦，坚持很酷=