【摘要】 石墨取向度(OI值):石墨取向度是描述石墨材料中石墨片层排列有序程度的一个参数。
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XRD衍射图谱分析:XRD,即X射线衍射,是一种非破坏性的分析方法,通过测量样品对X射线的衍射,得到材料的晶体结构信息。在锂离子电池材料检测中,XRD被广泛应用于分析材料的晶体结构、相组成以及晶格参数等。
石墨取向度(OI值):石墨取向度是描述石墨材料中石墨片层排列有序程度的一个参数。高取向度的石墨材料通常具有更好的导电性和热稳定性,从而提高锂离子电池的性能。OI值可以通过对XRD图谱进行特定计算和分析得到。
进行测试时,通常需要将石墨材料制备成薄膜或粉末样品,然后放置在XRD衍射仪的样品台上进行测试。测试过程中,X射线会照射到样品上并发生衍射,衍射信号被探测器接收并转化为数据。通过对这些数据进行分析,可以得到石墨材料的XRD衍射图谱,并进一步计算出OI值。
石墨电极片锂离子迁移图-源自网络
测试概念
在石墨制成电极片后,石墨层状结构的排布方向(取向)对离子迁移也有较大影响。理想情况下,石墨层结构完全与电极片平面方向垂直对离子扩散最有利,但实际制备时难以实现,通常只能控制石墨电极取向在一定范围内。
测试原理
对水平放置的电极片样品进行行射图谱测试时,能够采集到的(110)晶面的行射信号来自于层结构垂直于电极片的石墨,(002)和(004)晶面的衍射信号来自于层结构平行于电极片的石墨,因此,可以以(002)或(004)衍峰强度(或积分面积)与(110)行射峰强度(或积分面积)之比描述石墨电极的取向性OI=I(002)(110)或OI=I(004)(110)。
测试资料
六方石墨为层状结构,层与层之间面间距(d(002))较大,离子在平行于(002)面方向的扩散速度比垂直方向的扩散速度大的多(约10......6倍)。
在极片制备过程中,辊压、烘干等工序往往会改变层状结构粉末的择优取向。层状结构垂直于集流体的概率越大,即(002)面垂直于集流体的择优取向越大,越有利于离子的脱/嵌运动。
石墨负极充放电机理:离子电池在正常的充电过程中,电子从阴极引出,并通过外部电路移动到阳极。同时,离子从正极脱出,并通过电解质移动到负极。在放电过程中,整个过程是相反的。
锂沉积示意图-图片源自网络
参考文献
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