【摘要】 AI识别填色，在线粒径统计

当DeepSeek用算力基建重塑AI生态，在全球范围掀起风暴时，科学指南针试图为科研人搭建一座桥：继国内首个XPS在线分析AI工具之后，科学指南针重磅上线【SEM填色与粒径统计】！无门槛免费使用， 从上色到统计，一个平台全搞定，小白也能输出期刊级成果图！

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三大核心功能，专治电镜图处理“高血压”

 

01更高效

【AI智能上色】顶刊级电镜图上色，从3小时到30秒

 

02更准确

【全自动粒径统计】解放双手，杜绝人为误差

 

03更低成本

【全流程工作台】一个平台=PS+ImageJ+Excel+Origin

 

五大隐藏加分项，细节见真章


AI普惠

坚持DeepSeek式技术普惠，点击即可免费使用，不设任何付费墙；

 

零门槛操作

无需任何图像处理基础，三步上手（导入图像→点击AI键→导出）；

 

边等边学习

AI预识别间隙，可翻阅“SEM小知识卡片”，碎片时间掌握电镜原理、分析模式等知识；

 

自定义尺寸测量

支持手动校准测量区域，特殊形状样品也能精准统计；

 

在线答疑

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SEM填色与粒径统计

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DeepSeek降低的是AI成本，我们消灭的是科研浪费！不做功能的堆砌，只做科研痛点的终结者！

在【SEM填色与粒径统计】和【XPS数据在线分析】之外，科学指南针还布局规划了【TEM衍射标定】和【XRD物相分析】功能，在AI数据智能分析领域持续发力，以“智慧检测3.0”产品，为科研工作者提供更高维度价值的飞跃！

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【SEM填色与粒径统计】，一键点击使用，免费解锁顶刊级生产力