【摘要】 扫描电镜全称为扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM),它具有形貌、化学组分综合分析能力。
课程介绍
扫描电镜全称为扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM),它具有形貌、化学组分综合分析能力。因此,广泛应用于材料研究的各个领域,如:分析金属、陶瓷、高分子化学、催化剂、地矿、油气资源、半导体、生物医药、能源材料等。最常见的扫描电镜品牌,如蔡司(Zeiss)、泰思肯(TESCAN)、日本电子(JEOL)、日立(Hitachi)等。
扫描电镜基本原理:利用电子枪发射电子束经聚焦后在试样表面作光栅状扫描 ,通过检测电子与试样相互作用产生的信号对试样表面的成分、形貌及结构等进行观察和分析。入射电子与试样相互作用将激发出二次电子、背散射电子 、吸收电子、 俄歇电子、阴极荧光和特征 X射线等各种信息。
扫描电镜主要利用的是二次电子、 背散射电子以及特征X射线等信号对样品表面的特征进行分析。一般二次电子图像主要反映样品表面微观形貌,基本和自然光反映的形貌一致,特殊情况需要对比分析。背散射电子图像主要反映样品表面元素分布情况,越亮的区域,原子序数越高。看表面形貌,通常亮的区域高,暗的区域低。另外,电子束在样品微观区域进行逐行扫描过程中,还可以激发样品中的特征X射线信号,X射线信号被探测器接收后,通过特征X射线的能量和计数率,可以获取样品表面微观区域内元素成分的定性和定量信息。
讲师介绍
王老师,毕业于吉首大学材料化学专业,指南针学院内部SEM高级培训师,SEM高级应用工程师。
精通SEM仪器操作,对SEM有过硬的专业知识及独到的见解。同时在数据分析领域有很深的造诣。专注于扫描电镜原理的研究与实际理论知识使用,对学员在测试过程中遇到的关键问题,有着丰富的处理经验。
课程目录
扫描电镜基础知识入门篇
1、扫描电镜基础理论
扫描电镜工作原理
扫描电镜基本构造
2、扫描电镜样品的要求和制备
对样品的要求
样品的制备
3、扫描电镜基本操作及工作参数的优化
加速电压的选择
工作距离的选择
束流的选择
探测器的选择
消除荷电效应
课程相关图谱
SEM常见拍摄图
上课时间
11月22日(周一) 19:30
观看方式
微信视频号与B站直播间进行同步直播,大家可以根据自己的学习方便选择观看渠道。
1.科学指南针视频号直播间
2.指南针学院B站直播间
电脑端观看链接:http://live.bilibili.com/21727250
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