【摘要】 奥氏体不锈钢的敏化与晶界处的铬损耗有关，是晶间腐蚀（IGC）和晶间应力腐蚀开裂（IGSCC）的主要原因。

奥氏体不锈钢的敏化与晶界处的铬损耗有关，是晶间腐蚀（IGC）和晶间应力腐蚀开裂（IGSCC）的主要原因。铬的消耗导致局部耐腐蚀性降低。它的发展速度可能受到晶界结构的影响。敏化可能发生，例如焊接、热处理（如焊后、应力消除）或快中子辐照。由于需要一种简单、无损和定量的方法来确定不锈钢和镍基合金的敏化程度（DOS），因此开发了电化学动电位再激活（EPR）测试方法。在EPR测试中，与来自整个样品表面的电荷相关的阳极方向（即激活回路）上的极化曲线与阴极方向（即再激活回路）的极化曲线进行比较。再活化回路的响应主要来自易受腐蚀的铬贫化晶界。这允许将来自受攻击边界的电荷与来自整个样品表面的电荷进行直接比较。在标准的EPR测试中没有考虑诸如晶粒尺寸之类的微观结构因素。然而，在进一步的发展中，通过测量晶界长度或晶界面积来归一化来自阴极扫描的电荷，以便比较具有不同晶粒尺寸的微观结构的DOS。这些归一化是基于这样的假设，即所有晶界都将类似地敏化，并且所有晶界中铬贫化的宽度也是恒定的。然而，已经很好地证明，敏化行为取决于晶界的结构。边界类型的总体也可能随着热机械处理而发生显著变化，目前的评估方法没有考虑到这一点。EPR测试的物理原理与核磁共振相似，但EPR测量的是未配对的电子，而不是质子或其它核自旋。EPR测试主要检测自由基、晶格缺陷、过渡金属与稀土金属离子和三重态分子。这解决了依赖失重数据或未完全敏化样品的微观观察中的粒间深度测量的困难。此后引入了许多修改，以提高灵敏度测试的稳健性。

 

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