【摘要】 由此可见，来自单色x射线源的样品损伤通常被认为比旧的消色光源的损伤小。其退化不仅限于x射线的影响，而且还与所采用的电荷补偿源的性质有关。虽然某些类别的材料无法避免样品降解，但可以将其最小化。

x射线光电子能谱(XPS)在聚合物材料的表面分析中有着悠久的历史，角分辨XPS在表面修饰和浓度梯度的测定中特别有用[1]。x射线引起的损伤在XPS分析中并不是未知的，许多关于聚合物材料的研究已经开始，包括VAMAS实验室间研究ISO标准，举例说明了认识和理解这种损害的重要性，该标准为XPS分析过程中材料元素组成的识别、估计和校正降解提供了一个简单的程序。然而，损害并不仅仅局限于x射线。双中和作用(低能氩离子和电子的结合)已被证明可以加速某些无机材料的还原，而对于某些有机材料，中和剂的还原效果可与单独使用x射线的还原效果相媲美这些观察结果使我们继续研究样品降解，并开始利用现代XPS系统对Beamson和Briggs的工作进行初步的重新调查。鉴于制造商为我们提供了高质量的仪器，可供广泛的研究学科快速使用，再加上知识的侵蚀，不再有专门和经验丰富的XPS仪器操作员，对样品损坏的误解是极有可能的，这些问题在最近的一系列指南中得到了强调，重点是XPS分析中的可重复性挑战。其次，样品的降解是由于入射x射线与被分析体积的相互作用以及从样品中发射的次级电子级联引起的键合变化引起的。由此可见，来自单色x射线源的样品损伤通常被认为比旧的消色光源的损伤小。其退化不仅限于x射线的影响，而且还与所采用的电荷补偿源的性质有关。虽然某些类别的材料无法避免样品降解，但可以将其最小化。

[1] Morgan D J , Uthayasekaran S .Revisiting degradation in the XPS analysis of polymers[J].Surface and Interface Analysis: SIA: An International Journal Devoted to the Development and Application of Techniques for the Analysis of Surfaces, Interfaces and Thin Films, 2023.

 

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