【摘要】 这些成分在2B和8H样品的拉曼光谱的反卷积曲线中清晰可见，重点关注1000至2000 cm -1范围内的一阶拉曼光谱。

本文[1]探索了受控低剂量（0.2-100 Gy）光子照射作为富碳材料结构改变引发剂的效用。

 

迄今为止，我们在碳方面的工作主要集中在 β-、x- 和 γ-辐射以及基于热释光 (TL) 信号的放射治疗剂量（从几 Gy 到几十 Gy）的监测，也通过拉曼和 X 射线光谱 (XPS)，提供单壁碳纳米管的剂量依赖性分析（单壁碳纳米管）。

 

众所周知，由堆叠石墨烯层组成的石墨材料的晶格振动（声子）产生的拉曼信号对结构无序（缺陷）的程度高度敏感。如图1所示，拉曼光谱中最突出的特征是所谓的G带，分配给CC带的面内振动并出现在1570cm -1处。～1350 cm -1处的D带（D指无序带）和～2700 cm -1处的G'带（被认为是D带的泛音）是显着特征。G带在~1620 cm -1处呈现出高频肩（所谓的 D'）是有缺陷的类石墨材料的典型特征。

 

这些成分在2B和8H样品的拉曼光谱的反卷积曲线中清晰可见，重点关注1000至2000 cm -1范围内的一阶拉曼光谱。需要考虑的另外两个谱带位于光谱拟合曲线中的1188 和 1489 cm -1处，分别分配给无定形碳的 CC 和 C=C 伸缩振动模式 [ ( Jawhari et al., 1995 ) ，和类多烯结构（Dippel 等人，1999）。

 

图中还发现了许多小峰的证据，其中一个位于2330 cm -1由空气中存在的N 2引起（ Pimenta 等人，2007），由于异氰酸酯振动（N=C=O）而在 2270 - 2280 cm -1处出现峰，在 2340 cm -1处对应于 C= 的肩峰N=O 不对称伸缩振动。1100 cm -1附近的弱拉曼峰先前被归因于高岭石粘土（粘土是石墨铅笔中的粘合剂）的垂直 Si-O 振动，可在 1020、1043 和 1110 cm -1处观察到（Frost，1995）。

 

在每个样品的三个不同点处获取拉曼光谱（注意每个点的值接近其平均值），感兴趣的是基线减去 D 与 G 带的积分强度比。G 带位置、D 带宽度和I D /I G强度比描述了材料中的石墨顺序（Jawhari 等人，1995）。

 

150 kVp X 射线 10 mGy 至 6 Gy 和 60 Co 1-100 Gy照射的样品的I D /I G强度比-射线在这两种情况下都对晶格结构的微小变化敏感。对于这两条曲线，在整个研究剂量范围内都注意到I D /I G强度比的波动。

 

[1] B D A B A , C Z S R , A M U K ,et al.Raman spectroscopy and X-ray photo-spectroscopy analysis of graphite media irradiated at low doses[J].Applied Radiation and Isotopes, 2019, 147:105-112.

 

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