原位透射电子显微镜（in-situ-TEM）

原位透射电子显微镜技术可用来实时观测和记录位于电镜内部的样品对于不同外部激励信号的动态响应，是当前物质结构表征科学中最新颖和最具发展空间的研究领域之一。这一技术在常规的透射电子显微镜所具有的高空间分辨率和高能量分辨率的基础上，在电子显微镜内部引入热、电、磁以及化学反应等外部激励，实现物质在外部激励下的微结构响应行为的动态、原位实时观测。

透射电镜原位电镜技术不但要将外加作用准确地施加在样品上，同时还要满足一系列严苛的要求，比如：要维持电镜内部的超高真空度，保证样品台极高的机械稳定性，且不能对成像光路形成干扰，同时整个构造必须紧凑以适用于透射电镜狭小的样品室等。因此当前原位电镜的核心技术主要体现在原位样品杆的研究和制作上，因为这样可以避免对电镜系统本身进行改动，减少了风险，而且样品杆在同类型的电镜上可以通用，具有相当大的实用性和灵活性。

温度是影响材料所处状态和动态行为的最重要的因素之一，许多具有基础研究和商业应用意义的现象都出现在升温的过程中，例如固—固反应、固—液转变、成核和生长过程、烧结团聚、热应力等。

注意：首次下单建议先联系指南针工作人员，沟通拍摄要求后再下单

1， 不同原位测试对样品需求状态不同，具体请提前联系指南针工作人员沟通，选择合适的测试芯片和样品状态，以及是否需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）；

2，一般来说，样品的厚度不超过100nm，可先拍SEM判定颗粒大小）；

3，请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁或者以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；且须赔偿原订单金额的两倍费用！!若造成设备损坏，维修费用须由您全部承担；

4，若样品需要特殊条件保存，请下单前联系指南针工作人员确认。