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表面成分分析技术-XPS测试分析
99.1%
好评率
仪器型号 Thermo Kalpha；Thermo ESCALAB 250XI; Axis Ultra DLD Kratos AXIS SUPRA; PHI-5000versaprobeIII
预约次数 1568次
服务周期 收到样品后平均2.6-7.0工作日完成
项目详情
XPS项目简介
全谱+精细谱
深度剖析
线扫面扫
服务内容：XPS测试+分析一体化服务，以终为始，根据样品信息和分析目的综合开发测试方法，从更专业的角度给到更加符合样品实际情况的分析报告。报告内容包括测试参数、测试方法、分析方法简介、分析结果和扩展资料。
技术简介：X射线光电子能谱仪 （简称XPS）是一种常规的表面成分分析技术，可以表征材料表面的成分组成及各成分的化学价态，并可定量表征每种成分的相对含量。XPS采用激发源-X射线入射样品的表面，（常用的X-射线源是Al-Kα单色化X射线源，能量为1486.6eV，）探测从样品表面出射的光电子的能量分布，其原理基于爱因斯坦的光电发射理论。由于X射线的能量较高，所以得到的主要是原子内壳层轨道上电离出来的电子。由于光电子携带样品的特征信息（元素信息、化学态信息等），通过测量逃逸电子的动能，就可以表征出样品中的元素组成和化学态信息。因此对于各种材料开发，材料剖析与失效机理的分析和研究具有不可替代的作用。
(1) 固体物理学：键结构、表面电子态、固体的能带结构、合金的构成与分凝、粘附 、迁移与扩散；
(2) 基础化学：元素和分子分析、化学键、分子结构分析、氧化还原、光化学；
(3) 催化科学：元素组成、活性、表面反应、催化剂中毒；
(4) 腐蚀科学：吸附、分凝、气体—表面反应、氧化、钝化；
(5) 材料科学：是研究各种镀层、涂层、包覆层和表面处理层 (钝化层、保护层等) 的最有效手段，广泛应用于金属、高分子、复合材料等材料的表面处理、金属或聚合物的淀积、防腐蚀、抗磨、断裂等方面的分析。
(6) 微电子技术——电子能谱可对材料和工艺过程进行有效的质量控制和分析，注入和扩散分析，因为表面和界面的性质对器件性能有很大影响。
(7) 薄膜研究——如光学膜、磁性膜、超导膜、钝化膜、太阳能电池薄膜等。 研究膜层结构、层间扩散，离子注入等。
样品要求
1，粉末样品提供20-30mg，量少请用铝箔纸包好再装到管子里寄送；块状/薄膜：长宽厚不超5*5*3mm；需要刻蚀的样品建议准备3个左右。
2，特殊需求：样品含I、Br、Hg等元素单质不能测试或其他特殊需求请联系当地项目经理。
3，样品包装要求：样品制备好以后，尽可能进行真空密封，减少样品吸附空气中的污染物，对于某些元素的测试，比如常见的C、O，会有影响。
4，XPS测试需要样品用导电胶固定在样品台上，所以测过的粉末样品没法回收，块体样品回收可能也受到污染或者破坏，建议尽量不回收样品。
常见问题
