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负极颗粒粒径分析
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{{scope.row.thanker}}
{{scope.row.thankcompanyname}}
{{scope.row.buffetname}}
{{scope.row.ifvalue}}
{{scope.row.journalname}}
{{scope.row.amount || 0}}元
项目简介
项目介绍
通过CP法可以实现粉末材料截面制备，可针对原始材料、循环前后极片中颗粒进行分析。结合SEM表征，能够分析材料内部的形貌如是否含有裂纹、气孔、孔隙等。
适用范围
电池负极颗粒粉末（天然石墨、人造石墨、硅氧负极、硅碳负极、硬碳、中间相碳微球、碳纳米管、石墨烯）
方法简述
负极颗粒截面主要是通过氩离子抛光技术进行样品制备，通过SEM观察孔径分布，然后用image j进行数据分析。
{{moduleItem.modulename}}
样品要求
样品量：100mg左右最佳，如果样品较少，50mg左右也可以拍摄；
样品状态：干燥，样品稳定，不易挥发，无毒。
常见问题
1. 可能的风险点
1）图像偏模糊；
2）放大倍数选择不合适；
3）CP制样后拍摄SEM可能有窗帘效应；
