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正极颗粒掺杂元素分布
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项目简介
项目介绍
适用范围
方法简述
利用氩离子抛光仪制作一个平整的截面,通过TOF-SIMS探测样品表面溢出的荷电离子或离子团,同时对原子、离子和元素分布进行成像,深度溅射探测样品元素的纵向分布。
测试结果
1)提供表面一个位置的正负谱质谱图;
2)提供一个表面区域面扫2D mapping,扫描区域为: 100μm*100μm或50μm*50μm;
3)提供深度刻蚀曲线(负离子模式),采集三维深度分布图(负离子模式),深度刻蚀面积:400um*400um 溅射时间为20min。
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样品要求
样品量:建议送样量为100毫克,如果样品较少,则大约50毫克也可以
样品状态:粉末样品一定要干燥脱水真空包装邮寄,样品稳定,不易挥发,无毒。
常见问题
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1. 可能的风险点
1)TOF测试1-2nm的信息,对表面测试非常灵敏,会因包装问题导出样品表面污染测试出污染的信息,最好用铝箔纸包装;
2)样品在超高真空下必须稳定,无腐蚀性,无电解液残留。