【摘要】 同步辐射吸收谱测试(XAFS)是近几年随着科学研究发展而发展起来的一项重要的现代表征技术。

项目简介

同步辐射吸收谱测试(XAFS)是近几年随着科学研究发展而发展起来的一项重要的现代表征技术。XAFS可以分为三个部分，边前区(Pre-edge)、近边区(XANES)和扩展边(EXAFS)，XANES可以得到 吸收原子的电子结构，包括价态，对称性，轨道占据等信息;EXAFS可以得到吸收原子周围配位信息，包括配位原子种类，键长，配位数，无序度等信息，是研究原子配位环境的重要分析手段!

同步辐射吸收谱(XAFS)的硬线预约测试，可测元素激发能为4k-20keV，具体为Ca-Mo的K边，或者能量位于该范围内的元素L边，如Pt的L3边;高能机时可测K边超过20keV的元素，如Pd、Ag、Sb、Cs、Te等元素，请和相关负责的老师确认具体测试时间后再下单测试。

结果展示

 

样品要求

1.粉末均质无孔(一般100mg以上，粒径400目以上)

2.液体，提供5ml，浓度越高越好;

3.块体/片状：尺寸1*1cm，需要具体评估合适厚度;

常见问题

1. 为什么曲线毛刺、跳边不明显、信噪比差?

数据质量一般，是由于元素含量较低，或其他元素组分干扰造成的，只能在做图时平滑处理或者在Athena中Deglitch。

2. 一个元素为什么测有两个数据?用哪一个?

两个或多个数据是用到了荧光模式，进行了多次扫描，将多组数据merge合并后再进行处理和分析。

3. 为什么边前区有翘起，不是平的?

需要Normalized处理，或者手动调节pre-edge range，再进行归一化处理。

 

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