原子荧光光谱-散射光干扰

由非挥发的气溶胶颗粒产生的散射光，无法用提高光谱分辨率的办法来克服。散射光对荧光信号的影响与许多因素有关：散射光和单位体积内未蒸发的颗粒大小和数量有关，而与它的光学性质关系很小。因此，一般直喷入燃烧器的散射光比预混合火焰为大。当火焰的观测高度和火焰温度增加时，或者使用挥发性较高的溶剂时，散射光随之降低。所有这些因素都可以提高气溶胶的挥发性。

散射光信号强度与光源强度成比例，也与原子荧光信号强度成比例。量度散射信号大小的最适合的方法，即以被测元素产生的荧光信号等于散射信号时的浓度单位来表示。消除散射光干扰的最好方法是，在滤掉激发光源中与被测荧光波长相同的谱线的同时，测量直跃线荧光或阶跃线荧光。

然而没有许多元素能发射具有足够强度的非共振荧光线，以防止检出极限变坏。通常不容易选择到这样合适的滤光片，即它只能透过激发辐射的波长，而吸收被测量线的波长。这种困难随着该两条谱线波长差的减小而增加。对于某些元素，可以探讨用另一个元素的强的重叠线来激发。

处理散射光的另一种可能的方法是，通过测量其影响，并从被测定的信号中扣掉。若用连续光源激发时，可在分析线两侧波长区进行扫描，并扣除测量的背景来得到校正。然而，在原子荧光工作中，一般使用的单色器入射和出射狭缝较大，需要注意在测量的波长间隔内，不应包含有其他元素的邻近荧光线。

若用线光源激发时，散射光一般较小，但较难校正。可以制备一个浓度和主体成份相同的控制样品，并测量相应的散射光。控制样品必须不含有待测元素，对于微量分析，这一要求可能是相当困难,甚至是不可能做到的。在这样的情况下，可以测量另一条线的散射光量作为校正。用于测量散射信号的谱线，必须是非荧光线，或者样品必须不含有这种元素。

[1]田地, 陶琛, 李春生,等. 一种适用于原子荧光散射干扰的扣除方法:, CN105738332B[P]. 2018.