【摘要】 XPS数据处理软件推荐:Xpspeak、Avantage以及我们最常用的origin

拿到XPS测试数据应该怎么处理?

 

这里小编向大家推荐三款软件

Xpspeak、Avantage以及我们最常用的origin

 

常见问题解答:

 

1、XPS样品制备:

粉末制样

  • 压片

  • 粘到双面胶带上

  • 分散到挥发性有机溶剂中,形成悬浊液滴到硅片等固体基片、金属箔或滤膜、海绵等基底上

 

纤维细丝(网)样品

  • 缠绕或压在架子或回形针上,或样品台的孔中 央,分析区域内纤维丝悬空,避免基底元素干 扰分析结果;

  • 包裹在有孔的铝箔中,用小束斑XPS分析孔内样品; 

 

液体、膏状样品

  • 滴到Si片、聚乙烯/聚丙烯、金属片、滤膜、树 脂、海绵等固体基片上晾干或冷冻干燥

 

2、H和He为什么不能测XPS

主要原因有三点:

1) H和He的光电离界面小,信号太弱;

2) H1s电子很容易转移,在大多数情况下会转移到其他原子附近,检测起来非常困难;

3) H和He没有内层电子,其外层电子用于成键,H以原子核形式存在。所以用X射线去激发时,没有光电子可以被激发出来。

 

3、什么是荷电校正,如何进行荷电校正

XPS分析中,样品表面导电差 样品表面导电差,或虽导电但未有效接地。此时,当X射线不断照射样品时,样品表面发射光电子,表面亏电子, 出现正电荷积累(XPS中荷正电),从而影响XPS谱峰,影响XPS分析。在用XPS测量绝缘体或者半导体时,需要对荷电效应所引起的偏差进行校正,称之为“荷电校正”。

 

最常用的,人们一般采用外来污染碳的C1s作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ)来矫正谱中其他元素的结合能。

 

具体操作:1) 求取荷电校正值:C单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)-实际测得的C单质峰位=荷电校正值Δ;2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正:将要分析元素的XPS图谱的结合能加上Δ,即得到校正后的峰位(整个过程中XPS谱图强度不变)。

将校正后的峰位和强度作图得到的就是校正后的XPS谱图。

 

4、磁性元素对XPS有没有影响

有,磁性样品最好进行退磁、消磁处理

也可在测试中采用磁透镜模式或静电透镜模式

 

免责声明:部分文章整合自网络,因内容庞杂无法联系到全部作者,如有侵权,请联系删除,我们会在第一时间予以答复,万分感谢。