【摘要】 本文综述气相色谱中鬼峰的各种来源，包括进样口污染、载气问题、色谱柱老化与检测器干扰等，提供系统排查方法与最新解决策略，帮助实现无鬼峰干扰的GC分析。

气相色谱（GC）是分离挥发性、半挥发性和热稳定性化合物的高效分析工具。然而，“鬼峰”的存在常干扰目标分析，导致数据失真，成为色谱工作者面临的重要挑战。鬼峰可能来源于系统污染、载气不纯、进样口残留、色谱柱老化或检测器选择不当等多种因素。Anuj Kumar等人[1]系统综述了鬼峰的各类来源及其排除方法，有助于实现稳定、无干扰的气相色谱分析，提高数据的准确性与可靠性。

在定性与定量分析过程中，控制这些非预期峰的出现尤为关键。鬼峰也被称为外来峰、伪峰、空缺峰等，常因污染、样品残留或设备部件老化等原因产生。它们可能与目标化合物保留时间接近甚至重叠，严重影响分离效果与定量精度。常见的污染源包括进样口残留、不纯的载气、自动进样器小瓶与隔垫、色谱柱流失以及检测器噪声等。

Purcell等学者指出，载气、隔垫、进样系统与流量控制装置是鬼峰产生的主要设备来源。此外，样品分解、衍生物生成以及检测器类型选择错误（如质谱-MS、电子捕获-ECD、氮磷-NPD、热导-TCD等）也会带来干扰信号。例如，质谱仪中不锈钢组件（离子源、透镜等）因样品吸附或积碳可能导致信号漂移，进而产生伪峰。在使用填充柱与TCD检测器的气相色谱中，当样品气与载气压力不一致时，也可能引起基线波动，被误判为鬼峰。此外，溶剂热不稳定分解，尤其是在顶空进样中，也会引入非目标峰。

图1. 鬼峰源分配的逐步概率方法。[1]

如图1所示，鬼峰来源可分为仪器性来源与非仪器性来源。仪器来源包括进样口、载气、色谱柱/固定相和检测器；非仪器来源包括样品降解、衍生物以及其他杂项污染。排查时应首先检查进样口，依次再检查载气、固定相与检测器。若非仪器因素占主导，则需考察样品前处理过程中是否引入污染。

酸性化合物在进样口吸附并解吸形成鬼峰示意图

图2. 酸吸附解吸过程及其鬼峰洗脱。[1]

当前，气相色谱仪常与多种高灵敏度检测器联用，广泛应用于复杂体系分析。然而鬼峰的出现仍常令分析人员困扰。其主要来源于进样口组件（如隔垫、衬管、O型圈、分流出口等）、固定相流失、自动进样器小瓶与盖、不纯溶剂以及衍生化试剂等。常见仪器相关鬼峰成分包括硅氧烷、邻苯二甲酸酯和烃类等；而非仪器类污染常与样品本身或储存条件有关，如角鲨烯等。

因此，在分析之前建议执行系统空白实验，监控检测器本底信号，识别可能的污染来源，从而在样品分析之前排除干扰。

 

参考文献：(1) Kumar, A.; Sharma, C. Recent update of the various sources originating ghost peaks in gas chromatography: A review. Journal of Chromatography A 2022, 1685, 463625.

 

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