掠入射XRD（GIXRD）
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项目简介
掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让×射线略过样品表面的技术，这种技术能够更真实全面地表征出薄膜（特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。测试光是平行光，相对于常规的衍射光来说能量较小，因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息，也不容易测到基底，因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。薄膜尺寸没有特别要求，但是需要测试面平整光洁，不要有遮挡物，这样测试结果才真实可信。
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结果展示
样品要求
样品整体长宽1cm；
镀层或者薄膜一般厚度不要低于50nm，否则可能测不出信号；
粉末、液体等其他无法测试。
