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      掠入射XRD(GIXRD)

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      掠入射XRD(GIXRD)

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      仪器型号 Bruker D8
      预约次数 1291次
      服务周期 平均6.8个工作日完成

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      项目简介

      掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让×射线略过样品表面的技术,这种技术能够更真实全面地表征出薄膜(特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。测试光是平行光,相对于常规的衍射光来说能量较小,因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息,也不容易测到基底,因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。薄膜尺寸没有特别要求,但是需要测试面平整光洁,不要有遮挡物,这样测试结果才真实可信。

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      结果展示

      样品要求

      1,请确保测试的样品表面光滑平整,测试区域边缘处不要有遮挡,掠入射是平行光源,一旦有遮挡便会测到基底的信号,很容易遮盖需要测试物质的信号;

      2,粉末至少10mg,最好多一些;块体:长≤18mm,宽≤18mm,厚度≤2mm,不同的测试仪器要求的尺寸会有所不同,如有其他尺寸,可联系项目经理沟通确认。

      3,样品寄送时请用软材料包装好避免快递运输过程中损坏。

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