【摘要】 些微改性,图谱上应该有变化,比如谱峰的出峰位置(离子不同,对应质量数不同),或谱峰峰强比会有变化;具体情况具体分析。

在做TOF-SIMS测试时,科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到,好多同学对此项目不太了解,针对此,科学指南针检测平台组织相关同事对TOF-SIMS测试进行问题收集并整理,希望可以帮助到科研圈的伙伴们;

 

1.成分些微改性需要一点点对两个谱峰以解谱吗?

回复:些微改性,图谱上应该有变化,比如谱峰的出峰位置(离子不同,对应质量数不同),或谱峰峰强比会有变化;具体情况具体分析;

 

2.电池锂负极测试怎么处理?

回复:手套箱里拆出来剪小,通过样品传送管制备样品以及保护传送样品;

 

3.如何进行质谱分析呢?软件是专用的?

回复:软件是专用的;

 

4.老师好,肝脏组织如何制样放进去?

回复:储存在冷冻条件下。采用冷冻显微薄片切片机在冷冻条件下制备截面样品,解冻固定在导电(ITO)玻片上并储存在 -80°C条件下,直到分析。分析前约15分钟,组织部分干燥,并放入干燥器中至常温。

 

5.氢含量较高可以分析吗?

回复:可以分析

 

6.怎么确定界面的位置呀?

回复:两层采用其特征离子表征,看深度曲线的变化,曲线强度值拐点最高到最低的范围,20%-80%之间都可以设定为界面的位置。

 

7.膜层H的含量分布可以测吗?

回复:可以;

 

8.解离之后的碎片不会再重新组合吗?

回复:有重新组合的离子碎片;

 

9.老师,我的问题:在测试表面氧化的金属合金过程中,需要提前提供什么信息吗?比如元素或者化合态吗?

回复:能提供越多的样品信息越好,比如关注哪种金属离子和金属氧化物,分析的时候可以有针对性识别,但TOF可以分析未知无机成分;

之前说需要提供分子片段,想问下啥是分子片段?合金也有分子片段吗?

主要是指分子离子, 比如:Fe/FeO, Fe2O, FeO2等等;

 

10.能不能再讲讲SSMIS和DSIMS的区别?

回复:请看视频回放,谢谢;

 

11.可以测试si中参杂的o不?

回复:含量在ppt-ppb范围内用D-SIMS测试,含量在ppm范围内可以用TOF-SIMS测试;

 

12.老师,不锈钢材料FIB最大可挖多少um;

回复:不同设备FIB的能力不同,通常10微米以上应该是没问题的;

 

13.TOF溅射掉的每一层厚度约多少,或者说没1秒跳过的厚度怎么确定?

回复:不同溅射条件(离子源能量,溅射时间等)对应不同的溅射厚度,最小可以小于1nm;可以测试标准样品得到溅射速率(每秒溅射多厚)或采用轮廓仪等进行深度测试,计算溅射速率;

 

14.PI产生SI后再飞行过程中会重新组合吗,组合的话,一般多大和多大的分子组合?

回复:会组合,但与出射二次离子,基体效应等都有关系,不是绝对的规律性;不能一概而论;TOF-SIMS图谱确实比较复杂;

 

15.SIMS、EDS不锈钢中C含量准确性差别?

回复:EDS可以半定量,但EDS不适合原子序数低的元素定量;SIMS定量需要标样定量法,常规测试得不到含量值;

 

16.样品表面是不是还是需要基本平整?

回复:最好平整,如果粗糙度大,高度差尽量不要超过150微米;

 

17.从碎片怎么确定成分如Au2SO3?

回复:分别采集正负离子图谱,Au在正负离子模式下都有明显的产额,伴随Aux 团簇离子;SOx主要在负离子模式下产额高,S/SO/SO2/SO3这些离子都会出现,AuxSy 或AuxSOy这种离子也会出现;

 

18.老师,您那边是德国的ION-tof 吗?

回复:指南针平台有德国ION-TOF的资源以及PHI NANOTOF的资源;两种型号的设备能力都可以满足TOF-SIMS的分析能力;

 

免责声明:部分文章整合自网络,因内容庞杂无法联系到全部作者,如有侵权,请联系删除,我们会在第一时间予以答复,万分感谢。