【摘要】 通常提到的是高分辨高灵敏度表面分析系统吗?

1.通常提到的是高分辨高灵敏度表面分析系统吗?

   TOF-SIMS是高空间分辨和高探测灵敏度的成分分析系统; 

2.3D重构图是需要自己分析画出吗?

专用软件对数据处理;

3.请问数据分析要使用特定的软件吗?

    是专用软件;质谱图可以导出用EXCEL打开的格式;

4.单颗粒面积太小深度剖析会不会荷电很差,导致结果不准?

    看材料荷电效应,单颗粒尺寸大小; 

5.能不能定量测呢,包括成分?

    需要标准样品可以定量分析; 

6.FIBSIMS联用,边缘效应怎么处理呢?

    FIB加工后的断面,在SIMS分析前需要用离子源再清洁后再测试; 

7.分析深度能达到多少?

    表面是小于2nm, 结合溅射离子源可以到微米深度;

8.皮肤断面怎么切才能没有杂质

    采用冷冻显微薄片切片机在冷冻条件下制备截面样品 

9.高聚物表面的亲水基团的伸展方向和深度能测么?

    通过团簇离子源深度剖析的方法可以试试; 

10.矿物浮选剂方面做的多不?

    可以 

11.深度剖面横坐标时间与深度如何转换?

    首先获得溅射速率,通过溅射速率可以把时间转换成深度;(软件和EXCEL都可以实现) 

12.能分析的最小厚度是多少?

    深度剖析最小可以分析1个纳米的厚度; 

13.测试了无机物的深度剖析,界面上本来,成分不该有变化,但是也有一个起跳可能是什么原因?

    第一看仪器测试条件的稳定性如何?(total ion/ 以及其它特征离子是不是都有回跳?如果都有回跳,可能是测试条件不稳定), 如果只是特别元素回跳而其它离子比较正常,那很可能是真实的界面扩散;还有就是基体效应的影响;总之还是要看实际情况而定; 

14.可以对样品仅金属截面机械抛光后进行TOFSIMS测量?

    污染干扰太多,这样制样可以测,但数据太杂; 

15.生物或植物组织石蜡包埋切断面会影响结果吗?

    可以测,但测之前最好用团簇离子源剥离表面再测比较好; 

16.Si负极固态电解质膜做Depth profile?

    真空兼容性好的,都可以测试; 

17.AuS2如何确认呢,有硫的话会有各种硫成分?

    分别采集正负离子图谱,Au在正负离子模式下都有明显的产额,伴随Aux 团簇离子;S、SOx主要在负离子模式下产额高,S/SO/SO2/SO3这些离子都会出现,AuxSy 或AuxSOy这种离子也会出现; 

18.组织如果不冷冻如何固定在硅片上?

    需要冷冻或干燥态

19.hitachiFIB-tof-sims,这个设备怎么样呢?

    FIB+TOF的这种系统,成像很好(空间分辨率高),但质量分辨不如专用的TOF-SIMS;适合无机材料,不适用有机高分子材料成分剖析(大分子离子产额低,质量分辨率差)。

 

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