【摘要】 TOF-SIMS是高空间分辨和高探测灵敏度的成分分析系统

在做TOF-SIMS测试时,科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到,好多同学对此项目不太了解,针对此,科学指南针检测平台组织相关同事对TOF-SIMS测试进行问题收集并整理,希望可以帮助到科研圈的伙伴们;

 

1.老师说的是高分辨高灵敏度表面分析系统吗?

回复:TOF-SIMS是高空间分辨和高探测灵敏度的成分分析系统;

 

2.3D重构图是我们自己分析画出吗?

回复:专用软件对数据处理;

 

3.请问数据分析要使用特定的软件吗?

回复:是专用软件;质谱图可以导出用EXCEL打开的格式;

 

4.单颗粒面积太小深度剖析会不会荷电很差,导致结果不准?

回复:看材料荷电效应,单颗粒尺寸大小;

 

5.能不能定量测呢,包括成分?

回复:需要标准样品可以定量分析;

 

6.FIB与SIMS联用,边缘效应怎么处理呢?

回复:FIB加工后的断面,在SIMS分析前需要用离子源再清洁后再测试;

 

7.分析深度能达到多少?

回复:表面是小于2nm, 结合溅射离子源可以到微米深度;

 

8.老师了解这个皮肤断面怎么切又能没有杂质,看着这个杂质很少

回复:采用冷冻显微薄片切片机在冷冻条件下制备截面样品

 

9.高聚物表面的亲水基团的伸展方向和深度能测么?

回复:通过团簇离子源深度剖析的方法可以试试;

 

10.矿物浮选剂方面做的多不?

回复:可以

 

11.深度剖面横坐标时间与深度如何转换?

回复:首先获得溅射速率,通过溅射速率可以把时间转换成深度;(软件和EXCEL都可以实现)

 

12.深度剖面横坐标有的是帧数,可否转换成深度?

回复:同上的回复

 

13.能分析的最小厚度是多少呀?

回复:深度剖析最小可以分析1个纳米的厚度;

 

14.老师,我测了无机物的深度剖析,界面上本来,成分不该有变化,但是也有一个起跳咋回事?

回复:第一看仪器测试条件的稳定性如何?(total ion/ 以及其它特征离子是不是都有回跳?如果都有回跳,可能是测试条件不稳定), 如果只是特别元素回跳而其它离子比较正常,那很可能是真实的界面扩散;还有就是基体效应的影响;总之还是要看实际情况而定;

 

15.由于经费受限,金属截面机械抛光后进行TOFSIMS测量,可以吗?

回复:污染干扰太多,这样制样可以测,但数据太杂;

 

16.生物或植物组织石蜡包埋切断面会影响结果吗?

回复:可以测,但测之前最好用团簇离子源剥离表面再测比较好;

 

17.Si负极固态电解质膜做Depth profile?

回复:真空兼容性好的,都可以测试;

 

18.麻烦再问老师一下AuS2如何确认呢,有硫的话会有各种硫成分?

回复:分别采集正负离子图谱,Au在正负离子模式下都有明显的产额,伴随Aux 团簇离子;S、SOx主要在负离子模式下产额高,S/SO/SO2/SO3这些离子都会出现,AuxSy 或AuxSOy这种离子也会出现;

 

19.组织如果不冷冻如何固定在硅片上?

回复:需要冷冻或干燥态

 

20.hitachi的FIB-tof-sims,这个设备怎么样呢?

回复:FIB+TOF的这种系统,成像很好(空间分辨率高),但质量分辨不如专用的TOF-SIMS;适合无机材料,不适用有机高分子材料成分剖析(大分子离子产额低,质量分辨率差)。

 

免责声明:部分文章整合自网络,因内容庞杂无法联系到全部作者,如有侵权,请联系删除,我们会在第一时间予以答复,万分感谢。