【摘要】 主要用于分析导体和半导体薄膜材料的功函数、价带谱、获取价带/HOMO位置及能级排列图。

1.测试功能：主要用于分析导体和半导体薄膜材料的功函数、价带谱、获取价带/HOMO位置及能级排列图。

 

2.测试条件：He灯光源（HeI 21.2 eV）

 

3.测试内容和数据形式：在样品表面选取一点，分别进行（1）价带谱测试和（2）施加-5V或-10V偏压测试二次电子截止边谱图（注明：为了得到高质量数据，两张谱图是分两次采集），提供价带谱和二次电子截止边谱图的excel数据。

 

4.样品要求：样品导电性：导体或半导体样品（表面电阻<10MΩ ）。 样品尺寸：5mm*5mm   至7mm*7mm，不接受大尺寸样品，测试样品形态：表面分布均匀、清洁无污染的固体薄膜或块材。

 

5.测试过程：样品表面随机选取一点测试，并对数据进行分析，增加测试点，增加费用。

 

6.注意事项：

（1）常规测试：送样品前，填好好委托单发客服审核，确保正常测试。

（2）测试时采用金箔样品校准仪器，保证仪器正常工作，对因样品问题导致的数据异常，测试费用正常收取。

（3）测试完的样品，仅保留3个工作日，3个工作日后销毁，送检样品一般不建议回收，如需回收请注明，不承担回寄费用和丢失风险；

 

7.UPS测试常见问题：

（1）为什么提供的UPS是两张谱图，而不是一张谱图？

通常有的UPS会把价带（VB）和二次电子截止边（SEC）一起扫描（如左侧谱图所示），但由于二次电子截止边的信号非常强，扫谱时必须降低分析器MCP的电压，这样会导致价带的信号较弱，不利于观测价带电子态。所以好一点的UPS 实验会把二次电子截止边（SEC） 和价带（VB）分开扫描，扫描二次电子截止边时分析器MCP用较低电压（如右侧谱图所示），扫描价带时MCP用较高电压，这样得到的谱图质量更高，是目前更为专业的测试方法。由于二次电子截止边和价带谱图是用不同分析器电压采集的，无法合并为一张谱图，可以采用 如右下谱图的方式绘制谱图放于文章中。

（2）粉末样品是否适合测试UPS，有哪些问题？

由于UPS测量中光激发的价带电子的动能只有几个eV，非常容易受到材料表面的导电性、 污染程度和粗糙度等因素影响，轻则导致谱图的峰位移动和峰形变化，重则导致无信号。UPS适用于分析表面均匀洁净的导体以及导电性好的半导体薄膜材料。对于合成的粉末样品，影响因素较多，UPS测试结果存在不确定性风险。

（3）样品制备和邮寄时注意什么？制备薄膜时要选用导电性好的基底，如硅片或铜箔等，样品覆盖满基底表面，厚度尽可能薄。邮寄样品时，样品置于样品盒中需用少量双面胶固定，防止样品晃动导致表面损伤。注意是少量双面胶，双面胶用多了会导致样品难以取下，甚至发生破损。对于对水汽和空气敏感的样品，建议使用抽真空密封的样品袋。样品背面禁止粘标签纸，难以取下，影响抽真空。

（4）ITO或FTO薄膜样品制备注意事项:

注意ITO或FTO导电玻璃的基底是玻璃（绝缘体），只有表面的ITO或FTO层是导电的，所以样品薄膜应该制备在导电薄膜一测。对于导电面的判断可以借助万用表测试，一般玻璃绝缘面的电阻值太大超出量程。对于透明薄膜样品，用双面胶粘样品时，一定要粘绝缘玻璃一测，防止污染样品表面。

（5）测试样品需要用导电双面胶粘在样品托上，由于导电胶粘度比较较大导致样品比较难取下，可能会导致样品破碎。

（6）为什么与文献中的测试结果差别较大？ 样品的具体状态不可能完全一致，例如颗粒尺寸，组分分布、表面形貌和导电性等参数。即使是类似的样品，不同文献的结果差别也是很大。为了能更好地解释数据，建议同一批次样品加入对比样品。

 

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