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      负极极片SEI膜成分分析与厚度测定

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      项目简介

      项目介绍

      SEI 膜是锂离子电池在其首次循环过程中,电极材料与电解液会在两者之间的固-液相界面上发生一系列反应,在电极材料的表面形成一层多组分钝化层。这种钝化层是一类界面层,是 Li 离子的优良导体却是电子的绝缘体,Li 离子可以顺利通过这一钝化层,自由地嵌入和脱出。这些特征都是固态电解质固有的特征,故而这层钝化膜被称为“固体电解质界面膜”(solid electrolyte interface)SEI 膜。TOF-SIMS可以测试SEI膜表面的离子态信息,通过发射热电子电离氩气或氧气等离子体轰击样品的表面,探测样品表面溢出的荷电离子或离子团来表征SEI成分,通过质谱、mapping与深度剖析等,探测样品成分的纵向分布。

      适用范围

      电池负极极片

      方法简述

      TOF-SIMS可以测试SEI膜表面的离子态信息,通过发射热电子电离氩气或氧气等离子体轰击样品的表面,探测样品表面溢出的荷电离子或离子团来表征SEI成分,通过质谱、mapping与深度剖析等,探测样品成分的纵向分布。

       

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      样品要求

      1)粉末样品50mg即可,块状样品长宽1.1cm以内,厚度5mm以内,不能太大,小一些没有问题;

      2)粉末样品一定要干燥脱水真空包装邮寄,粉末样品一般不做深度剖析,只做质谱和mapping。

      常见问题

      1. 可能的风险点

      TOF-SIMS测试1-2nm的信息,对表面测试非常灵敏,会因包装问题导出样品表面污染测试出污染的信息,最好用铝箔纸包装。

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