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负极极片SEI膜成分分析与厚度测定
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项目简介
项目介绍
SEI 膜是锂离子电池在其首次循环过程中，电极材料与电解液会在两者之间的固-液相界面上发生一系列反应，在电极材料的表面形成一层多组分钝化层。这种钝化层是一类界面层，是 Li 离子的优良导体却是电子的绝缘体，Li 离子可以顺利通过这一钝化层，自由地嵌入和脱出。这些特征都是固态电解质固有的特征，故而这层钝化膜被称为“固体电解质界面膜”（solid electrolyte interface）SEI 膜。TOF-SIMS可以测试SEI膜表面的离子态信息，通过发射热电子电离氩气或氧气等离子体轰击样品的表面，探测样品表面溢出的荷电离子或离子团来表征SEI成分，通过质谱、mapping与深度剖析等，探测样品成分的纵向分布。
适用范围
电池负极极片
方法简述
TOF-SIMS可以测试SEI膜表面的离子态信息，通过发射热电子电离氩气或氧气等离子体轰击样品的表面，探测样品表面溢出的荷电离子或离子团来表征SEI成分，通过质谱、mapping与深度剖析等，探测样品成分的纵向分布。
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样品要求
1）粉末样品50mg即可，块状样品长宽1.1cm以内，厚度5mm以内，不能太大，小一些没有问题；
2）粉末样品一定要干燥脱水真空包装邮寄，粉末样品一般不做深度剖析，只做质谱和mapping。
常见问题
1. 可能的风险点
TOF-SIMS测试1-2nm的信息，对表面测试非常灵敏，会因包装问题导出样品表面污染测试出污染的信息，最好用铝箔纸包装。
